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          臺積電2nm工藝2023年風(fēng)險試產(chǎn)良率或達90%

          作者: 時間:2020-09-23 來源: 收藏

          據(jù)臺灣經(jīng)濟日報報道,工藝取得重大突破,研發(fā)進度超前,業(yè)界看好其2023年下半年風(fēng)險試產(chǎn)良率就可以達到90%。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/202009/418649.htm

          供應(yīng)鏈透露,有別于3nm和5nm采用鰭式場效應(yīng)晶體管(FinFET),工藝改用全新的多橋通道場效電晶體(MBCFET)架構(gòu)。

          據(jù)悉,去年成立了專案研發(fā)團隊,尋找可行路徑進行開發(fā)。

          考量成本、設(shè)備相容、技術(shù)成熟及效能表現(xiàn)等多項條件,2nm采以環(huán)繞閘極(GAA)制程為基礎(chǔ)的MBCFET架構(gòu),解決FinFET因制程微縮產(chǎn)生電流控制漏電的物理極限問題。

          極紫外光(EUV)微顯影技術(shù)的提升,使臺積電研發(fā)多年的納米片(Nano Sheet)堆疊關(guān)鍵技術(shù)更為成熟,良率提升進度較預(yù)期順利。

          臺積電此前透露2nm研發(fā)生產(chǎn)將在新竹寶山,規(guī)劃P1到P4四個超大型晶圓廠,占地90多公頃。




          關(guān)鍵詞: 臺積電 2nm

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