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          NanoPhotonics向ISMI出貨450mm晶圓檢測(cè)設(shè)備

          作者: 時(shí)間:2009-02-20 來(lái)源:SEMI 收藏
                  據(jù)Semiconductor International網(wǎng)站報(bào)道,簽訂合約,將向出貨兩臺(tái)用于450mm的缺陷檢測(cè)設(shè)備。

                  這兩臺(tái)設(shè)備分別是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,兩臺(tái)設(shè)備將和450mm設(shè)備前端模塊一同集成于 450mm協(xié)同測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/91436.htm


          關(guān)鍵詞: NanoPhotonics ISMI 晶圓

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