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          無法接觸頂部反饋電阻時的環(huán)路響應(yīng)測量方案

          作者: 時間:2025-09-16 來源:ADI 收藏

          為使電源穩(wěn)定,需要一定的增益和相位裕量。通常,電源若具有至少45°的相位裕量和至少10 dB的增益裕量,便可視為穩(wěn)定。為了測量這些值,通常要在 VOUT節(jié)點和頂部反饋電阻之間插入一個小電阻,然后在這個增加的電阻兩端施加一個擾動信號,并在期望的頻率范圍內(nèi)測量。如果用戶能夠接觸到頂部反饋電阻,這種常規(guī)方法會很簡便,因此很常用。

          為使電源穩(wěn)定,需要一定的增益和相位裕量。通常,電源若具有至少45°的相位裕量和至少10 dB的增益裕量,便可視為穩(wěn)定。為了測量這些值,通常要在 VOUT節(jié)點和頂部反饋電阻之間插入一個小電阻,然后在這個增加的電阻兩端施加一個擾動信號,并在期望的頻率范圍內(nèi)測量。如果用戶能夠接觸到頂部反饋電阻,這種常規(guī)方法會很簡便,因此很常用。

          但是,如果用戶無法接觸模塑模塊內(nèi)的頂部反饋電阻,該如何測量?如果器件不需要頂部反饋電阻,而是使用輸出電壓檢測引腳,又該如何測量環(huán)路響應(yīng)?對于這兩個問題,通過比較常規(guī)測量方法和新型測量方法的環(huán)路響應(yīng)波特圖,可以給出解答。

          頂部反饋電阻位于何處?

          如圖1所示,測量環(huán)路響應(yīng)的常規(guī)方法是在 VOUT節(jié)點和頂部反饋電阻之間插入一個小值電阻。只有用戶可以接觸到頂部反饋電阻時,才能使用這種方法。

          Figure 1. Schematic showing the added resistor required to measure the loop response with the LT8608.

          圖1. 原理圖:使用LT8608測量環(huán)路響應(yīng)時,需要外加電阻。

          許多電源模塊的頂部反饋電阻位于電源封裝內(nèi)部,無法接觸。若將頂部反饋電阻硬連線到VOUT節(jié)點,則輸出電壓絕不會超過反饋電阻分壓器設(shè)定的電壓。如果頂部反饋電阻不是硬連線,在降壓型穩(wěn)壓器中,一旦該電阻連接不當或發(fā)生故障,則VOUT節(jié)點電壓可能會升高到與輸入電壓一樣高。公司的許多μModule?器件都將頂部反饋電阻模塑在模塊內(nèi)部,以提供額外的保護。但這樣一來,便無法用常規(guī)方法測量環(huán)路響應(yīng)。圖2顯示了LTM8074及其無法接觸的頂部反饋電阻。

          LTM8074

          圖2. 示例電路:用戶無法接觸頂部反饋電阻。

          另一種特殊情況是模塊使用輸出電壓檢測引腳(VOSNS)來調(diào)節(jié)VOUT電壓。如圖3中的簡化框圖所示,由于該設(shè)置使用基準電流源,而不是通常的基準電壓源,因此沒有頂部反饋電阻。LTM4702使用該基準電流電路來調(diào)節(jié)輸出電壓。

          LTM4702

          Figure 3. Simplified block diagram showing V<sub>OSNS</sub> circuitry.

          圖3. 顯示VOSNS電路的簡化框圖。
          負載瞬態(tài)響應(yīng)還是波特圖?

          如果沒有辦法測量電源的環(huán)路響應(yīng),就必須完全依靠系統(tǒng)的瞬態(tài)響應(yīng)來確定穩(wěn)定性。瞬態(tài)響應(yīng)測試用于檢查在 VOUT節(jié)點施加負載階躍時VOUT的電壓響應(yīng)。瞬態(tài)響應(yīng)示例如圖4所示。根據(jù)波形,通過測量從施加負載階躍到輸出電壓開始恢復(fù)的時間,可以估算帶寬(?BW)??刂骗h(huán)路的帶寬等于該恢復(fù)時間(tr)與∏乘積的倒數(shù)。在此示例中,恢復(fù)時間約為4 μs,帶寬為80 kHz。

          Equation 1.

          圖4. 瞬態(tài)響應(yīng)示例。

          此外,通過觀察波形的形狀也可以評估系統(tǒng)的穩(wěn)定性。如果在波形中看到振鈴(綠色響應(yīng)曲線),則表示系統(tǒng)具有欠阻尼響應(yīng)。這意味著系統(tǒng)可能不穩(wěn)定,相位裕量較低。但相位裕量有多低呢?

          如果波形的恢復(fù)時間相當長,則可以認為系統(tǒng)具有過阻尼響應(yīng)(藍色響應(yīng)曲線)。系統(tǒng)輸出電壓的恢復(fù)時間可能比預(yù)期時間要長得多。由于電壓下降持續(xù)時間超過預(yù)期,下游電路可能會受到影響。

          雖然通過瞬態(tài)響應(yīng)可以了解有關(guān)系統(tǒng)環(huán)路響應(yīng)的一些信息,但確切的相位裕量和增益裕量只能通過測量來確定。

          測量環(huán)路穩(wěn)定性的新方法

          對于使用輸出電壓檢測引腳的情形,環(huán)路響應(yīng)測量與常規(guī)測量方法類似。只需在 VOUT節(jié)點和 VOSNS引腳之間放置一個小值電阻即可。如圖3所示,將擾動信號施加于該電阻,然后測量環(huán)路響應(yīng)。

          對于頂部反饋電阻位于模塊內(nèi)部而無法接觸的情形,采用新型環(huán)路測量技術(shù)時需要格外小心。如圖5所示,必須安裝一個并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡(luò),并將擾動信號置于底部反饋電阻和地之間插入的電阻上。務(wù)必使并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡(luò)盡可能靠近反饋電阻網(wǎng)絡(luò),以盡量減少誤差。

          圖5. 新型環(huán)路響應(yīng)測量方法

          第1步:

          在R2和地之間插入20 Ω RPERT電阻。將擾動信號施加于 RPERT。

          第2步:

          選擇R4,其值應(yīng)在500 Ω至1 kΩ范圍內(nèi)。見注釋1。

          第3步:

          計算并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡(luò)比率。n = R2/R4。

          第4步:

          使用第3步中的比率n計算R3和CFF2

          第5步:

          重新構(gòu)建包括前饋電容和電容CM的并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡(luò),以消除擾動信號帶來的附加電容的影響。見注釋2。

          公式:

          1. n = R2/R4

          2. R3 = R1/n

          3. CFF2 = n × CFF1

          4. CM = n × CPERT

          注釋1:

          選擇R4,使得R2比R4大40到100倍。這樣,由R2和R3組成的電阻網(wǎng)絡(luò)將在反饋環(huán)路的測量中起主導(dǎo)作用。

          注釋2:

          如果無法可靠地測量擾動信號的寄生電容,可以通過迭代試驗的方式,憑借經(jīng)驗確定CM電容。

          新型測量方法產(chǎn)生的環(huán)路響應(yīng)與常規(guī)方法相同,如圖6所示。

          Figure 6. Bode plot comparison of the conventional and novel measurement methods.

          圖6. 常規(guī)測量方法和新型方法的波特圖比較。
          結(jié)語

          借助這種新型測量方法,用戶現(xiàn)在無需接觸頂部反饋電阻即可確定環(huán)路響應(yīng)。用戶不再需要使用帶寬有限且誤差較大的低效方法,也不必僅依賴負載瞬態(tài)響應(yīng)來評估環(huán)路穩(wěn)定性。


          關(guān)鍵詞: ADI 環(huán)路響應(yīng)

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