（4）對所有8 bit密鑰組合進(jìn)行實驗

　　對這個實驗進(jìn)行拓展，對密鑰的最高L=8比特所有可能性進(jìn)行猜測，也就是對這8 bit進(jìn)行強(qiáng)力攻擊，這樣就能產(chǎn)生1個1 000×2L的矩陣M4。8 bit密鑰組合中必有一個是正確的密鑰，而且只有這個密鑰計算出的第1輪功耗變化與第1輪是統(tǒng)計相關(guān)的（相關(guān)系數(shù)比較大），由此可以通過這種方法推測出密鑰。圖5為M1的第1列和M4的所有列之間的相關(guān)系數(shù)。從圖中可以看出，所猜測的密鑰只有1Ahex=30dec時具有較高的相關(guān)性，所以正確的密鑰是（30）dec。

　　式中，i=0,…2L-1。

　　通過功耗仿真的方法可以對DES密碼芯片進(jìn)行成功的攻擊，根據(jù)攻擊的難度大小，也就是所得到的相關(guān)系數(shù)的大小，可以判斷一個密碼芯片抗功耗分析攻擊能力的大小，這樣就能夠在設(shè)計階段評估密碼芯片的抗功耗分析攻擊的能力大小，為密碼芯片設(shè)計者提供參考，以便及時添加相應(yīng)的抗功耗分析的防御措施。

　　抗功耗分析性能的評估標(biāo)準(zhǔn)在很多文獻(xiàn)中只是簡單提到過，且沒有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。本文中采用了KrisTri所用的評估標(biāo)準(zhǔn)MTD（Measurements To Disclosure），也就是對于某個密碼芯片來說，能夠破解1 bit密鑰所需要的隨機(jī)明文數(shù)目。本文模擬攻擊過程也可以用這種標(biāo)準(zhǔn)來衡量密碼芯片的抗功耗分析性能。

　　為研究密碼芯片的抗功耗分析性能，搭建了功耗分析仿真平臺，并結(jié)合DES分組加密算法進(jìn)行了相關(guān)性功耗分析攻擊實驗。實驗結(jié)果表明，搭建的仿真平臺是有效的，且說明未經(jīng)過防御的DES算法容易受到相關(guān)性功耗分析的威脅。