s7 mosfet 文章最新資訊

Diodes 40V車用MOSFET適用于電機(jī)控制應(yīng)用

　　Diodes公司 (Diodes Incorporated) 新推出的兩款40V車用MOSFET DMTH4004SPSQ及DMTH4005SPSQ溫度額定值高達(dá)+175°C，非常適合在高溫環(huán)境下工作。DMTH4004SPSQ旨在滿足水泵和燃油泵等超過(guò)750W的高功率無(wú)刷直流電機(jī)應(yīng)用的要求;DMTH4005SPSQ則適用于低功率無(wú)刷直流應(yīng)用，包括備用泵和暖通空調(diào)系統(tǒng)?！　MTH4004SPSQ及DMTH4005SPSQ為滿足三相無(wú)刷直流電機(jī)控制應(yīng)用的嚴(yán)格要求，
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Fairchild新一代PowerTrench MOSFET提供一流性能

　　全球領(lǐng)先的高性能功率半導(dǎo)體解決方案供應(yīng)商Fairchild (NASDAQ: FCS) 在2016年APEC上發(fā)布了新一代100V N溝道Power MOSFET旗艦產(chǎn)品——FDMS86181 100V屏蔽柵極PowerTrench? MOSFET。 FDMS86181是Fairchild新一代PowerTrench MOSFET系列的首款器件，能夠使需要100V MOSFET的電源、電機(jī)驅(qū)動(dòng)和其他應(yīng)用
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怎樣降低MOSFET損耗并提升EMI性能

　　一、引言　　MOSFET作為主要的開關(guān)功率器件之一，被大量應(yīng)用于模塊電源。了解MOSFET的損耗組成并對(duì)其分析，有利于優(yōu)化MOSFET損耗，提高模塊電源的功率;但是一味的減少M(fèi)OSFET的損耗及其他方面的損耗，反而會(huì)引起更嚴(yán)重的EMI問(wèn)題，導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)不能穩(wěn)定工作。所以需要在減少M(fèi)OSFET的損耗的同時(shí)需要兼顧模塊電源的EMI性能?！　《㈤_關(guān)管MOSFET的功耗分析　　　　MOSFET的損耗主要有以下部分組成：1.通態(tài)損耗;2.導(dǎo)通損耗;3.關(guān)斷損耗;4.驅(qū)動(dòng)
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手機(jī)里真的有水 Galaxy S7官方拆解

　　不少媒體已經(jīng)對(duì)三星的最新旗艦Galaxy?S7/S7?edge進(jìn)行了深入的拆解，而三星也在官網(wǎng)放出官方拆解圖，其中更是有這兩臺(tái)手機(jī)使用的熱管的解析：　　? ?　　Galaxy?S7的屏幕面板，采用5.1英寸的Super?AMOLED，分辨率達(dá)到QHD(2560*1440)，這個(gè)規(guī)格和上一代的Galaxy?S6一致，前面板采用了2.5D玻璃設(shè)計(jì)。比較特別的是，這次的觸控IC也是三星自家的芯片。　　? ?　　Ga
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皇者的矜持：三星S7 Edge攝像頭拆解分析

　　三星正式在國(guó)內(nèi)發(fā)布了新世代旗艦GalaxyS7/S7 Edge系列，國(guó)行版的S7家族全系使用高通驍龍820主控，沒有出現(xiàn)搭載Exynos 8890的版本或許是出于網(wǎng)絡(luò)制式考慮。雖然像筆者這種好奇的極客看來(lái)，不能直接比對(duì)兩款旗艦主控有些遺憾，但好在從配置和功能層面上來(lái)看，國(guó)行版S7沒有任何縮水，即使是強(qiáng)迫癥們也無(wú)需糾結(jié)了?！　?nbsp; 　　無(wú)獨(dú)有偶，近日，著名的芯片級(jí)分析網(wǎng)站Chipworks開始了對(duì)Galaxy S7 Edge(以下
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三星失去了雙曲面屏幕的壟斷將面臨什么

目前安卓手機(jī)行業(yè)正面臨同質(zhì)化嚴(yán)重、缺乏創(chuàng)新等問(wèn)題，智能手機(jī)發(fā)展到今天，到底還有哪些可能性?參數(shù)配置更加強(qiáng)大?還是硬件的不斷升級(jí)?這些都很難說(shuō)是創(chuàng)新。
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三星S7拆解圖集三星S7真機(jī)拆機(jī)

　　三星S7上市了，但是還有很多用戶關(guān)注的東西三星并沒有公布。三星S7是否采用水冷散熱。需要通過(guò)真機(jī)拆解才能知道。下面分享網(wǎng)友拆解三星S7的過(guò)程，三星S7通過(guò)拆機(jī)能夠了解三星S7?！　?? ?　　?? ?　　?? ?　　?? ?　　?? ?　　?? ?　　?? ?　　?&nb
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【E課堂】MOSFET管驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)總結(jié)

　　關(guān)于MOSFET很多人都不甚理解，這次小編再帶大家仔細(xì)梳理一下，也許對(duì)于您的知識(shí)系統(tǒng)更加全面。下面是對(duì)MOSFET及MOSFET驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)的一點(diǎn)總結(jié)，其中參考了一些資料。　　在使用MOS管設(shè)計(jì)開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的時(shí)候，大部分人都會(huì)考慮MOS的導(dǎo)通電阻，最大電壓等，最大電流等，也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的，但并不是優(yōu)秀的，作為正式的產(chǎn)品設(shè)計(jì)也是不允許的?！　?、MOS管種類和結(jié)構(gòu)　　MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET)，可以被制造成增強(qiáng)型或耗盡型，P溝道或N
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三星S7處理器跑分曝光成績(jī)不如麒麟950

　　在今年旗艦智能機(jī)的比拼中，新一代的旗艦級(jí)處理器勢(shì)必會(huì)成為關(guān)鍵，其中以高通驍龍820、聯(lián)發(fā)科HelioX20、華為旗艦950以及三星Exynos8890這四大處理器中決出勝負(fù)，其中驍龍820、HelioX20、麒麟950的性能跑分都已經(jīng)公之于眾，而近日Exynos8890處理器的跑分也首次曝光了。　　雖然三星Exynos8890處理器早已經(jīng)在去年發(fā)布，但是關(guān)于該處理器的性能跑分卻一直都是未知數(shù)，讓人很是期待這款三星旗艦級(jí)處理器的性能到底如何，這次在知名跑分網(wǎng)站Geekbench上，終于出現(xiàn)了搭載Ex
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同步降壓 MOSFET 電阻比的正確選擇

　　進(jìn)行這種折中處理可得到一個(gè)用于 FET 選擇的非常有用的起始點(diǎn)。通常，作為設(shè)計(jì)過(guò)程的一個(gè)組成部分，你會(huì)有一套包括了輸入電壓范圍和期望輸出電壓的規(guī)范，并且需要選擇一些 FET。另外，如果你是一名 IC 設(shè)計(jì)人員，你還會(huì)有一定的預(yù)算，其規(guī)定了 FET 成本或者封裝尺寸。這兩種輸入會(huì)幫助您選擇總 MOSFET 芯片面積。之后，這些輸入可用于對(duì)各個(gè) FET 面積進(jìn)行效率方面的優(yōu)化。　　　　圖 1 傳導(dǎo)損耗與 FET 電阻比和占空比相關(guān) 　　首先，F(xiàn)ET 電阻與其面積成反比例關(guān)系。
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看懂MOSFET數(shù)據(jù)表，第5部分—開關(guān)參數(shù)

　　最后，我們來(lái)到了這個(gè)試圖破解功率MOSFET數(shù)據(jù)表的“看懂MOSFET數(shù)據(jù)表”博客系列的收尾部分。在這個(gè)博客中，我們將花時(shí)間看一看MOSFET數(shù)據(jù)表中出現(xiàn)的某些其它混合開關(guān)參數(shù)，并且檢查它們對(duì)于總體器件性能的相關(guān)性(或者與器件性能沒什么關(guān)系)。　　另一方面，諸如FET固有體二極管的輸出電荷 (QOSS) 和反向恢復(fù)電荷(Qrr) 等開關(guān)參數(shù)是造成很多高頻電源應(yīng)用中大部分FET開關(guān)損耗的關(guān)鍵因素。不好意思，我說(shuō)的這些聽起來(lái)有點(diǎn)兒前言不搭后語(yǔ)，不過(guò)設(shè)計(jì)人員在根據(jù)這些參數(shù)比較不同
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估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 2 部分

　　在《估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 1 部分》中，我們討論了如何設(shè)計(jì)溫升問(wèn)題的電路類似方法。我們把熱源建模成了電流源。根據(jù)系統(tǒng)組件的物理屬性，計(jì)算得到熱阻和熱容。遍及整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的各種電壓代表各個(gè)溫度?！　”疚闹?，我們把圖 1 所示模型的瞬態(tài)響應(yīng)與圖 3 所示公開刊發(fā)的安全工作區(qū)域(SOA 曲線)部分進(jìn)行了對(duì)比?！　?nbsp; 　　圖 1 將散熱容加到&nb
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估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 1 部分

　　在本文中，我們將研究一種估算熱插拔 MOSFET 溫升的簡(jiǎn)單方法?！　岵灏坞娐酚糜趯㈦娙葺斎朐O(shè)備插入通電的電壓總線時(shí)限制浪涌電流。這樣做的目的是防止總線電壓下降以及連接設(shè)備運(yùn)行中斷。通過(guò)使用一個(gè)串聯(lián)組件逐漸延長(zhǎng)新連接電容負(fù)載的充電時(shí)間，熱插拔器件可以完成這項(xiàng)工作。結(jié)果，該串聯(lián)組件具有巨大的損耗，并在充電事件發(fā)生期間產(chǎn)生溫升。大多數(shù)熱插拔設(shè)備的制造廠商都建議您查閱安全工作區(qū)域 (SOA) 曲線，以便設(shè)備免受過(guò)應(yīng)力損害。圖 1 所示
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看懂MOSFET數(shù)據(jù)表，第2部分—連續(xù)電流額定值

　　今天我們來(lái)談一談MOSFET電流額定值，以及它們是如何變得不真實(shí)的。好，也許一個(gè)比較好的解釋就是這些額定值不是用確定RDS(ON)?和柵極電荷等參數(shù)的方法測(cè)量出來(lái)的，而是被計(jì)算出來(lái)的，并且有很多種不同的方法可以獲得這些值?！　±?，大多數(shù)部件中都有FET“封裝電流額定值”，這個(gè)值同與周圍環(huán)境無(wú)關(guān)，并且是硅芯片與塑料封裝之間內(nèi)在連接線的一個(gè)函數(shù)。超過(guò)這個(gè)值不會(huì)立即對(duì)FET造成損壞，而在這個(gè)限值以上長(zhǎng)時(shí)間使用將開始減少器件的使用壽命。高于這個(gè)限值的故障機(jī)制包括但不限于線路融合、成型復(fù)合材料的熱降
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場(chǎng)效應(yīng)管（MOSFET）檢測(cè)方法與經(jīng)驗(yàn)

　　本文總結(jié)了場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)檢測(cè)方法與經(jīng)驗(yàn)　　一、用指針式萬(wàn)用表對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管進(jìn)行判別　　(1)用測(cè)電阻法判別結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管的電極　　根據(jù)場(chǎng)效應(yīng)管的PN結(jié)正、反向電阻值不一樣的現(xiàn)象，可以判別出結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管的三個(gè)電極。具體方法：將萬(wàn)用表?yè)茉赗×1k檔上，任選兩個(gè)電極，分別測(cè)出其正、反向電阻值。當(dāng)某兩個(gè)電極的正、反向電阻值相等，且為幾千歐姆時(shí)，則該兩個(gè)電極分別是漏極D和源極S。因?yàn)閷?duì)結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管而言，漏極和源極可互換，剩下的電極肯定是柵極G。也可以將萬(wàn)用表的黑表筆(紅表筆也行)任意接觸一個(gè)電極，另一只表筆
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