測(cè)試系統(tǒng) 文章最新資訊

秒級(jí)測(cè)試，泛華測(cè)控流量傳感器測(cè)試系統(tǒng)帶您體驗(yàn)高速檢測(cè)

　　近期，由北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱：泛華測(cè)控)設(shè)計(jì)并開發(fā)的流量傳感器測(cè)試系統(tǒng)正式交付客戶使用。　　該系統(tǒng)秉承泛華測(cè)控一貫的“柔性測(cè)試”技術(shù)設(shè)計(jì)理念，在提高系統(tǒng)的精確性、可靠性及靈活性等方面進(jìn)行了大量的研究，并根據(jù)被測(cè)件特點(diǎn)，提出了適宜的解決方案。首先，根據(jù)被測(cè)件對(duì)測(cè)試環(huán)境溫度的苛刻要求(高溫、恒溫)，系統(tǒng)的終檢測(cè)試腔體采用雙層封閉式設(shè)計(jì)，不僅可以對(duì)被測(cè)件進(jìn)行預(yù)熱，而且也可保證精確的被測(cè)溫度環(huán)境要求;多信號(hào)點(diǎn)定位設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)288個(gè)信號(hào)點(diǎn)同時(shí)被準(zhǔn)確定位，保證數(shù)據(jù)采集
關(guān)鍵字：泛華測(cè)控傳感器測(cè)試系統(tǒng) 200911

寬范圍高穩(wěn)晶振頻率穩(wěn)定度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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高穩(wěn)定度石英晶體諧振器(簡(jiǎn)稱高穩(wěn)晶振)是廣泛應(yīng)用于通訊、電子對(duì)抗、數(shù)傳電臺(tái)、計(jì)算機(jī)等電子信息產(chǎn)品的重要器件。高穩(wěn)晶振的指標(biāo)直接影響產(chǎn)品的可靠性，因此如何檢測(cè)其性能是非常重要的。
代表性
關(guān)鍵字：晶振測(cè)試系統(tǒng) 頻率

基于虛擬儀器的濁度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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濁度是工業(yè)水處理(除鹽水)檢驗(yàn)水質(zhì)要求的一個(gè)重要參數(shù)，對(duì)除鹽水的水質(zhì)要求較高。目前，濁度的測(cè)定大部分都是停留在傳統(tǒng)儀器的模式下，沒有擺脫獨(dú)立使用，手動(dòng)操作的模式。隨著科技的迅猛發(fā)展，計(jì)算機(jī)
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基于MSP430的石油井下壓力測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

1 引言
壓力數(shù)據(jù)在油田開采過程中是一項(xiàng)極重要的資料。而這其中的射孔工藝是關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其對(duì)高質(zhì)量打開油氣層，提高油氣井產(chǎn)能都有重要影響。射孔是打開油氣層讓地層流體流入井內(nèi)的主要完井工序。測(cè)取射孔瞬間動(dòng)
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新型液壓離合器液壓操縱系統(tǒng)性能測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

本文從汽車新型液壓離合器液壓操縱系統(tǒng)性能測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)入手，介紹了系統(tǒng)測(cè)試原理、測(cè)試流程和Labwindows/CVI開發(fā)平臺(tái)的實(shí)用性和強(qiáng)大功能。
關(guān)鍵字：液壓測(cè)試系統(tǒng) 設(shè)計(jì) 性能操縱離合器新型系統(tǒng)

MSP430單片機(jī)在測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

1 引言
單片機(jī)(或微控制器)技術(shù)已滲透到生活的方方面面，廣泛應(yīng)用于家用電器、通信、測(cè)試等領(lǐng)域。因此該技術(shù)正積極影響著人們的生活。這里給出一種基于MSP430單片機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)。MSP430系列單片機(jī)是TI公司生
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CAN總線在發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

本文簡(jiǎn)述了CAN總線在發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。文中簡(jiǎn)要介紹了CAN現(xiàn)場(chǎng)總線的特點(diǎn)，提出了對(duì)原有設(shè)備的改造方法，并對(duì)具體的改造技術(shù)給出了詳盡的描述。
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基于DSP的多頻帶混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)方案

1混合信號(hào)測(cè)試的特點(diǎn)和測(cè)試要求隨著數(shù)字化浪潮的深入，具有混合信號(hào)功能的芯片越來越多地出現(xiàn)在人...
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基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng)

基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng),　1 引言　　Modbus 協(xié)議最初由Modicon 公司開發(fā)出來，1979 年末該公司成為施耐德自動(dòng)化（Schneider Automation）部門的一部分?，F(xiàn)在Modbus 協(xié)議已經(jīng)是工業(yè)領(lǐng)域全球最流行的協(xié) 議。Modbus 協(xié)議為應(yīng)用層報(bào)文傳輸協(xié)議
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基于AVR單片機(jī)的中頻電源測(cè)試系統(tǒng)

本文介紹一種基于 AVR單片機(jī)采用交流采樣、數(shù)字濾波等技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)中頻電源的電力參數(shù)測(cè)量和實(shí)時(shí)監(jiān)控，具有較好的精確度和穩(wěn)定性，本文詳細(xì)介紹了該系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)和軟件模塊。
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基于Dasylab的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試系統(tǒng)研究

引言隨著國(guó)防、通信、航天、航空、氣象、勘測(cè)等領(lǐng)域飛速發(fā)展，對(duì)測(cè)試的現(xiàn)場(chǎng)化、遠(yuǎn)地化、網(wǎng)絡(luò)化要求不斷升溫，特別是在危險(xiǎn)或測(cè)試人員難于進(jìn)人的軍事試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)、氣候惡劣場(chǎng)地進(jìn)行的測(cè)試工作。因此，網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試
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惠瑞捷推出零空間占用的低成本測(cè)試系統(tǒng)V101

　　半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和集成電路、微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長(zhǎng)的上市時(shí)間壓力。　　V101測(cè)試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國(guó)加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會(huì)議中心舉行的SEMICON WEST展覽會(huì)上展出。　　惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測(cè)試技術(shù)專業(yè)知識(shí)惠及這一細(xì)分市場(chǎng)。這一成本敏感型市場(chǎng)要求測(cè)試方案以最低的測(cè)試成本
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FZC-1型發(fā)動(dòng)機(jī)性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)

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定期對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試是保證飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)性能的正常發(fā)揮和飛行安全的必要手段，目前部隊(duì)進(jìn)行該項(xiàng)工作時(shí)面臨的問題主要有三點(diǎn)：一是沒有專門用于發(fā)動(dòng)機(jī)性能檢測(cè)的設(shè)備。對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)性能的檢測(cè)只是在發(fā)動(dòng)機(jī)試車
關(guān)鍵字：測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn) 參數(shù) 性能發(fā)動(dòng)機(jī) FZC-1 性能參數(shù) 測(cè)試系統(tǒng) PC104 匯編語言實(shí)現(xiàn) DOS

LM-STAR基于NI軟件測(cè)試系統(tǒng)節(jié)省百萬成本

　　The Challenge: 　　針對(duì)計(jì)劃中超過3000架聯(lián)合攻擊戰(zhàn)斗機(jī)設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng)，從生產(chǎn)，環(huán)境應(yīng)力篩選到補(bǔ)給測(cè)試實(shí)現(xiàn)應(yīng)用。　　The Solution: 　　設(shè)計(jì)支持航空電子測(cè)試系統(tǒng)集成的測(cè)試系統(tǒng)。使用NI TestStand及LabWindowsTM/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C語言測(cè)試開發(fā)環(huán)境。 LM-STAR系統(tǒng)設(shè)置　　"LM-STAR系統(tǒng)使用NI TestStand及LabWindows/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C測(cè)試開發(fā)環(huán)境，能夠快速開發(fā)測(cè)試
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試系統(tǒng) TestStand LabWindowsTM/CVI

編碼式光幕立靶測(cè)試系統(tǒng)的研究

介紹一種由兩套垂直放置的和平行光源構(gòu)成的編碼式光幕立靶測(cè)試系統(tǒng)，可精確測(cè)試彈丸著靶位。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用電路編碼替代光纖編碼，克服光纖編碼立靶測(cè)試系統(tǒng)的不足，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易于實(shí)現(xiàn)。
關(guān)鍵字：研究測(cè)試系統(tǒng) 編碼