0 引 言
高穩(wěn)定度石英晶體諧振器(簡稱高穩(wěn)晶振)是廣泛應用于通訊、電子對抗、數(shù)傳電臺、計算機等電子信息產品的重要器件。高穩(wěn)晶振的指標直接影響產品的可靠性，因此如何檢測其性能是非常重要的。
代表性測量儀器是頻穩(wěn)測試系統(tǒng)(誤差倍增器+多路開關)。其原理是將被測頻率源的頻率起伏△f進行倍頻，然后再用頻率計數(shù)器進行測頻來計算準確度、老化率、日波動等指標。在頻穩(wěn)測試系統(tǒng)的設計中，信號源是一個重要的組成部分。其作用為產生高性能的輸出頻率(1～100 MHz)可設定的鐘信號，與被測晶振的信號進行混頻，輸出差值在倍頻環(huán)的范圍內。目前，它廣泛應用于信號源設計的直接數(shù)字頻率合成(DDS)技術，具有輸出頻率范圍寬，分辨力高，相位噪聲低，易于實現(xiàn)等優(yōu)點；其次，對于高分辨力頻率計數(shù)器，在同等條件下，頻率分辨高一位，倍增環(huán)路可少一路。經比較分析，選擇以DDS技術為核心，采用AVR單片機和CPLD作為控制系統(tǒng)，可適時控制、計算、處理，并與上微機相連，完成多路檢測、分析、繪制狀態(tài)圖等工作。

1 頻率誤差倍增法測頻的基本原理
設Fr為標準鐘(銣原子鐘)頻率，被測頻率Fx=Fr+△f。通過第一級倍增得到Fr+m△f，通過第二級倍增得到Fr+m2△f……，通過n級倍增，則有：

一般m=10，n=1，2，3，4，由于受倍頻器本底噪聲的影響，最高n=5級。頻差倍增最大達10-5。
由式(1)可知，頻穩(wěn)測試系統(tǒng)只對接近標準鐘輸出頻率的被測信號進行測量。因此，需要研制高性能的新一代測試系統(tǒng)，檢測高穩(wěn)晶振生產的質量。