為測(cè)試電子和機(jī)電器件設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)所遇到的問(wèn)題和設(shè)計(jì)產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測(cè)試開(kāi)關(guān)系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時(shí)候更加重要。

　　本文所述的噪聲降低技術(shù)準(zhǔn)則是針對(duì)信號(hào)頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。

　　任何新式測(cè)試系統(tǒng)都用很多信號(hào)和電源線來(lái)仿真和測(cè)量DUT(待測(cè)器件)，并有各種各樣的開(kāi)關(guān)進(jìn)行自動(dòng)連接。通用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示于圖1。控制總線示于圖中左邊。模擬、數(shù)字和電源總線作為垂直線對(duì)示于不同子系統(tǒng)后面。

　　開(kāi)關(guān)是整個(gè)系統(tǒng)的中心，互連很多測(cè)試點(diǎn)到測(cè)量?jī)x器和路由信號(hào)、電源到DUT。幾乎所有模擬和數(shù)字信號(hào)以及電源通過(guò)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)。

　　如果設(shè)計(jì)不注意，開(kāi)關(guān)系統(tǒng)可能是測(cè)量誤差之源。有時(shí)是莫明其妙的誤差。其原因是簡(jiǎn)單的，很多的互連通常彼此緊靠著，這為噪聲耦合提供足夠的機(jī)會(huì)。每個(gè)噪聲問(wèn)題都有一個(gè)噪聲源，以某種形式耦合到接收機(jī)，依次對(duì)噪聲敏感。