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          邊界掃描測試技術(shù)(04-100)

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          作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/81044.htm

            在位于系統(tǒng)主機(jī)板上的掃描控制器件的控制下,這些向量通過總體掃描鏈發(fā)送。這種系統(tǒng)級基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)可用于執(zhí)行從靜態(tài)結(jié)構(gòu)測試到以BIST速度的測試。這也可以在現(xiàn)場更新可編程邏輯器件中的系統(tǒng)操作固件和配置碼的修改版本。

            用商用軟件工具,在實踐中實現(xiàn)所設(shè)計的理論性測試方法是可能的。這要考慮不同系統(tǒng)級結(jié)構(gòu)的支持以及系統(tǒng)接口器件和測試配置的各種組合。

            外部控制

            圖4給出在采用外部控制器時測試向量開發(fā)的數(shù)據(jù)流程,外部控制器包括配備PCI邊界掃描控制卡的PC。一旦進(jìn)行測試的檢驗,同樣的測試向量格式存儲在閃存中,在掃描主機(jī)的控制下廣播到系統(tǒng)的從機(jī)板/模件。

            圖4示出在系統(tǒng)主機(jī)測試處理器的控制下NS公司的ScanEASE軟件驅(qū)動器如何用于控制向量傳遞。嵌入式向量來自同一ATPG(自動測試程序產(chǎn)生器)輸出,這原來是為外部邊界掃描測試開發(fā)的。其他測試總線控制器廠家(如Firecron公司)也提供類似的驅(qū)動器。

          linux操作系統(tǒng)文章專題:linux操作系統(tǒng)詳解(linux不再難懂)


          關(guān)鍵詞: 嵌入式 IEEE1149.1

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