支持器件

　　對邊界掃描系統(tǒng)級(jí)測試能力的需求增加，促進(jìn)開發(fā)各種支持器件，如3和4端口網(wǎng)關(guān)，掃描通路線路和多掃描端口。

　　根據(jù)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)要求，可得到封裝類型、大小和工作電壓不同的器件。一些供應(yīng)商也提供象IP那樣的器件功能，可用CPLD、FPGA或ASIC器件嵌入IP。

　　這些器件的重要功能是提供從主邊界掃描總線到特定本地掃描鏈(LSL)的接入，這如同系統(tǒng)級(jí)器件協(xié)議選擇那樣。掃描鏈不是單獨(dú)選擇就是任意組合中的菊花鏈，這為測試分配提供了靈活性(見圖2)。

　　這對于支持閃存器件系統(tǒng)內(nèi)編程而分配板設(shè)計(jì)是有用的。在這些環(huán)境下，在板上圍繞邊界掃描移位的向量數(shù)應(yīng)該保持絕對最少，以使閃存編程周期時(shí)間最佳。

　　閃存編程

　　理想情況，對于閃存而言，具有對閃存地址、數(shù)據(jù)和控制信號(hào)網(wǎng)直接接入的邊界掃描器件可放置在單個(gè)LSC上。此LSC只在閃存編程相被選擇。換句話說，為執(zhí)行板級(jí)內(nèi)連測試選擇所有LSC或?yàn)閳?zhí)行功能邏輯組測試可選擇專門的LSC。在此，假設(shè)用外部邊界掃描控制器驅(qū)動(dòng)測試圖形或向量，通過總體掃描鏈基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)到各個(gè)板。

　　一些嵌入式控制結(jié)構(gòu)通常在IEE1149.1系統(tǒng)測試配置中實(shí)現(xiàn)，在嵌入式邊界掃描控制器件的控制下，這種結(jié)構(gòu)將允許測試向量的時(shí)序，測試向量一般存儲(chǔ)在閃存中。

　　嵌入式控制器可按排在單系統(tǒng)主機(jī)板上或安排在系統(tǒng)環(huán)境中的多板上，它支持嵌入向量輸送方法。這最普通的是系統(tǒng)總線主機(jī)結(jié)構(gòu)。

　　系統(tǒng)測試總線主機(jī)

　　在此，背板中的一個(gè)模件是系統(tǒng)主機(jī)，而其他模件變成從機(jī)(見圖3)。用于測試從模件或多板中執(zhí)行測試的邊界掃描向量安排在系統(tǒng)主機(jī)板上的閃存中。