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          EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 采用多功能混合信號(hào)管腳實(shí)現(xiàn)汽車IC的高效益低成本測(cè)試

          采用多功能混合信號(hào)管腳實(shí)現(xiàn)汽車IC的高效益低成本測(cè)試

          作者: 時(shí)間:2012-04-01 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          科利登復(fù)雜的電源測(cè)試系統(tǒng)Falcon和 Piranha能夠應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。

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          圖 3, 3種不同的管腳類型覆蓋廣泛的測(cè)試需求:

          - DPIN:數(shù)字管腳,用于高速數(shù)字需求 ;

          - VPIN:具有高壓測(cè)試能力的數(shù)字管腳,其30 V的電壓擺 幅和50 MHz的數(shù)據(jù)速率很好的滿足了汽車器件的測(cè)試需求 ;

          -APIN:模擬混合信號(hào)管腳,用于高壓高精度,提供 +-100 V/40 mA的每管腳參數(shù)測(cè)量單元(PMU)用于汽車工業(yè)的電源 混合信號(hào)測(cè)試。

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          圖 4,多功能混合信號(hào)管腳結(jié)構(gòu)圖。

          多功能混合信號(hào)管腳電子性能

          多功能混合信號(hào)管腳VPIN包括幾個(gè)功能模塊,如向量存儲(chǔ)器、ATE管腳控制器、驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載和每個(gè)通道獨(dú)立的PMU。

          控制器由序列產(chǎn)生器、時(shí)序發(fā)生器、格式化器件和比較邏輯組成。數(shù)字矩陣提供接入數(shù)字儀器的接口,如定時(shí)器、計(jì)數(shù)器、時(shí)間測(cè)量單元和用于同步及觸發(fā)的觸發(fā)器。

          通過(guò)模擬矩陣,每個(gè)管腳通道都能夠使用模擬儀器,如VI 源、系統(tǒng)電壓表和DSP儀器,通過(guò)編寫軟件可以簡(jiǎn)化負(fù)載板的設(shè)計(jì)和額外的測(cè)試測(cè)量電路的集成。板上控制器允許進(jìn)行并行測(cè)量。驅(qū)動(dòng)/反饋技術(shù)保證精確的模擬激勵(lì)并允許在拆分模式下使用VPIN,這樣可以使測(cè)試管腳通道加倍。拆分模式允許驅(qū)動(dòng)和探測(cè)路徑同向。

          新的數(shù)字管腳VPIN 被設(shè)計(jì)用于滿足汽車器件的特殊測(cè)試需求,電壓最高需達(dá)25V (通常值為14V) 才能進(jìn)行受力測(cè)試。VPIN是高壓混合信號(hào)管腳,具有較好的數(shù)字測(cè)試性能。它提供30V 電壓擺幅和最高50MHz 的數(shù)據(jù)率用于測(cè)試高壓高速混合信號(hào)器件。

          真正的每管腳測(cè)試儀結(jié)構(gòu)提供高靈活性和完整的并行測(cè)試能力。每個(gè)管腳獨(dú)立的序列產(chǎn)生允許以不同的數(shù)據(jù)頻率發(fā)生同步或異步數(shù)字圖型。

          向量存儲(chǔ)器存儲(chǔ)測(cè)試向量、序列指令、格式和時(shí)序信息。存儲(chǔ)器中包含激勵(lì)/預(yù)期數(shù)據(jù),用于驗(yàn)證器件的輸出數(shù)據(jù)。發(fā)送和接收存儲(chǔ)器支持實(shí)時(shí)記錄,ADC測(cè)試需要這種能力??梢栽谙蛄窟\(yùn)行時(shí)讀取存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)。每個(gè)管腳獨(dú)立的PMU允許并行的直流參數(shù)測(cè)試。通過(guò)軟件控制線路切換,每個(gè)通道都可以連接到模擬和數(shù)字儀器。板上控制器存儲(chǔ)不同的測(cè)試設(shè)置,可以并行的調(diào)用從而可以快速的執(zhí)行測(cè)試。進(jìn)行高精度模擬測(cè)量時(shí)可以關(guān)閉控制器以降低噪聲。驅(qū)動(dòng)/反饋結(jié)構(gòu)保證了先進(jìn)的模擬精度。



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