系統(tǒng)工作流程

　　系統(tǒng)工作流程描述如圖3。

　　操作人員啟動系統(tǒng)后，系統(tǒng)開始自檢，發(fā)現(xiàn)故障，則系統(tǒng)復(fù)位并自動斷電。首先是各功能模塊的初始化，接下來是由上位機(jī)PXI-3800往各個下位機(jī)發(fā)送動作指令，接受指令后CPCI-7434模塊輸出對應(yīng)的電平信號控制繼電器完成測試電路中信號傳輸通道的切換，CPCI-6208模塊輸出對應(yīng)的模擬信號經(jīng)由功放模塊放大后作為測試電路需要的電壓源及電流源。與此同時SMX-2042執(zhí)行相應(yīng)的測試動作，如果需要，高低溫系統(tǒng)會提供相應(yīng)的環(huán)境溫度。經(jīng)過一定延時，系統(tǒng)開始采集數(shù)據(jù)，其中包括SMX-2042的測試結(jié)果及溫度傳感器反饋的芯片真實(shí)環(huán)境溫度。采集的數(shù)據(jù)實(shí)時地顯示到輸出終端并保存到非易失性存儲器中。此時系統(tǒng)會自動檢查是否還有待執(zhí)行的指令，如有則轉(zhuǎn)入下一輪循環(huán)，否則系

統(tǒng)復(fù)位、結(jié)束。

　　系統(tǒng)優(yōu)缺點(diǎn)分析

　　優(yōu)點(diǎn)：
　　1．成本低。通常搭建一套標(biāo)準(zhǔn)配置的測試系統(tǒng)僅需要約30萬人民幣，成本優(yōu)勢非常明顯。
　　2．測試精度高。依靠輔助電路，它的測試精度可以達(dá)到：電壓mV級，電流nA級，電阻mΩ級，滿足當(dāng)前大多數(shù)產(chǎn)品的測試精度要求。
　　3．易于開發(fā)、維護(hù)和升級。由于陵華計(jì)算機(jī)已經(jīng)提供了功能強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集、處理模塊，因此測試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)極大地簡化了。而且該系統(tǒng)采用Labview圖形化開發(fā)環(huán)境，設(shè)計(jì)者無須編程經(jīng)驗(yàn)也可編寫出高效的測試程序。該系統(tǒng)采用PXI工業(yè)總線，用戶可方便升級。

　　缺點(diǎn)：
　　1． 測試速度低，不適用于大批量測試。由于系統(tǒng)沒有配置機(jī)械化上料機(jī)構(gòu)，而是采用操作工人手動上料的方式，對操作工人的防靜電保護(hù)及操作技能要求較高，測試時間相對較長。 Labview軟件編譯環(huán)境也是影響測試時間的原因之一，相比Visual C++編寫的程序，執(zhí)行時間要長很多。
　　2． 抗干擾能力差。由于系統(tǒng)沒有達(dá)到高度集成，有一部分電路缺少屏蔽保護(hù)，干擾信號尤其是噪聲極可能成為系統(tǒng)誤差的主要來源，因此采取有效的抗干擾措施將非常重要。

　　本文應(yīng)用凌華工業(yè)計(jì)算機(jī)搭建IC半自動測試平臺，可對當(dāng)前大部分半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行小批量測試，相比傳統(tǒng)測試系統(tǒng)，它大大地降低了成本，保證了產(chǎn)品測試精度，此外，還具有維護(hù)簡單，容易升級的優(yōu)點(diǎn)，為IC測試開發(fā)人員提供了可靠的設(shè)計(jì)依據(jù)。

參考文獻(xiàn)
[1]《2005~2006中國集成電路產(chǎn)業(yè)研究報告》，水清木華研究中心，2006.8
[2]莊嘉明，《PXI——用于制造測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)平臺》，致茂電子，2003.12
[3]PXISelectionGuid, ADLINK