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          EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 理解RF器件性能測(cè)量過(guò)程中的紋波:理論與實(shí)驗(yàn)(下)

          理解RF器件性能測(cè)量過(guò)程中的紋波:理論與實(shí)驗(yàn)(下)

          作者:Habeeb Ur Rahman Mohammed博士 時(shí)間:2014-04-01 來(lái)源: 收藏

            接上篇)

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/235700.htm

            多次反射的反射和傳輸系數(shù)

            本小節(jié)將計(jì)算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數(shù)。圖2顯示了該介電模塊內(nèi)正常入射層波多次相互作用情況。

            介電模塊入射的正常平行或者垂直極化平面波可看作:



          關(guān)鍵詞: RF DUT TEM

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