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          在LTspice仿真中使用GaN FET模型

          作者: 時間:2025-10-23 來源:ADI 收藏

          近年來,工業(yè)電源市場對氮化鎵(GaN) FET和碳化硅(SiC) FET等高帶隙器件的興趣日益濃厚。GaN器件憑借顯著降低的電荷特性,能夠在較高開關(guān)頻率下實現(xiàn)高功率密度,而MOSFET在相同條件下運行時會產(chǎn)生巨大的熱損耗。在相同條件下,并聯(lián)MOSFET并不能節(jié)省空間或提升效率,因此FET成為一種頗具吸引力的技術(shù)。業(yè)界對GaN器件性能表現(xiàn)的關(guān)注,相應(yīng)地催生了對各種GaN器件進行準(zhǔn)確仿真以優(yōu)化應(yīng)用性能的需求。包含最新DC-DC控制器的IC模型,針對FET驅(qū)動進行了優(yōu)化。借助這些模型,設(shè)計工程師可以確定哪種FET最適合特定應(yīng)用,并嘗試不同的組合以獲得理想性能。

          用戶在選擇FET器件時,常常遇到這樣的困擾:多家供應(yīng)商的產(chǎn)品供貨和選型變化速度甚至超過了軟件原生元件庫的更新速度,導(dǎo)致用戶無所適從。最終,用戶不得不自行管理自定義的符號和器件庫,以至于分散了用戶為特定應(yīng)用尋找最佳方案的的寶貴時間。此外,如果設(shè)計團隊中有人沒有對元件庫進行同步,可能會阻礙團隊間的協(xié)作。

          現(xiàn)在,在analog.com的產(chǎn)品專題頁面上,提供了GaN FET器件的此 類可移植電路的示例。如圖1所示,LTC7891采用一對EPC2218 GaN FET,配置為12 V、240 W工作模式。此文件可直接下載并運行,器件庫無需任何更改。它之所以獨立自足且可移植,是因為仿真中使用的GaN FET是作為子電路模型加以引用。使用的符號是標(biāo)準(zhǔn)NMOS類型符號,任何版本都支持這些符號,而且每個符號都已配置為指向同一模型名稱的.sub指令語句。

          Figure 1. GaN-based-LTspice example circuit featuring EPC2218 FETs with subcircuit model.

          圖1. 基于GaN的示例電路,EPC2218 FET作為子電路模型加以引用

          如果設(shè)計人員希望評估其他模型,操作起來也相當(dāng)簡單,并且LTspice文件仍然像下載時一樣可移植,方便其他團隊成員進行評估。如果放置了其他器件,過程也一樣。首先,需要一個模型庫文件(由供應(yīng)商提供)來提取模型數(shù)據(jù)。為了便于參考,電源產(chǎn)品專題頁面上提供的所有示例電路都包含了此網(wǎng)址。圖2 所示為EPC2218A供應(yīng)商提供的器件模型列表示例。為了演示該過程,我們選擇EPC2218A器件作為示例。大多數(shù)供應(yīng)商提供的下載內(nèi)容通常包含多個文件。此外還有符號文件和示例文件。我們關(guān)注的是庫文件(圖3)。如果直接打開庫文件,則會打開默認(rèn)庫安裝程序,這不是推薦的做法。我們的目標(biāo)是不必向本地庫中添加更多元件符號和器件,從而無需進行管理。因此,我們將直接使用庫文件中包含的數(shù)據(jù)。利用任何基本文本編輯器工具(比如記事本)打開庫文件,以獲取其中的數(shù)據(jù)而不執(zhí)行庫安裝。

          Figure 2. Vendor GaN model library list example available for download.

          圖2. 可供下載的供應(yīng)商GaN模型庫列表示例

          Figure 3. Downloaded library files from EPC.

          圖3. 從EPC下載的庫文件

          庫文件里列出了很多子電路文本模型,所有模型都以.subckt [模型名稱]開頭,以.ends結(jié)尾。使用系統(tǒng)自帶的查找功能,找到要插入SPICE電路的模型,并復(fù)制從.subckt到.ends的所有內(nèi)容。在編輯器中打開一個.sp SPICE語句框,然后將復(fù)制的內(nèi)容粘貼到語句框中。為使粘貼的文本在整體編輯區(qū)域中不那么突兀,縮小文本尺寸通常很有幫助。放置或編輯已在編輯區(qū)域中的現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)NMOS符號,以鏈接到所粘貼的子電路模型文本。

          為此,請按下Ctrl鍵并右鍵單擊NMOS符號。隨即出現(xiàn)一個屬性表,如圖4所示?,F(xiàn)在必須更改幾個關(guān)鍵屬性。首先,需要將Prefix屬性更改為x。這會強制LTspice在本地查找模型,并調(diào)用具有指定名稱的.subkt。接下來,更改Value屬性,使之與所粘貼文本的第一行中.subkt之后的模型名稱完全一致。InstName屬性可以根據(jù)用戶的偏好進行更改(Q、G等);默認(rèn)為NM,但一旦配置為GaN器件,這些就不再是NMOS FET。

          Figure 4. Press control and right-click the standard NMOS device to open the attribute table to use the inserted subcircuit model text.

          圖4. 按下Ctrl鍵并右鍵單擊標(biāo)準(zhǔn)NMOS器件以打開屬性表,進而使用插入的子電路模型文本

          為使模型在SPICE文件中能夠正常工作,最后還需要注意一個細(xì)節(jié):確保所粘貼的模型文本的網(wǎng)絡(luò)順序約定與LTspice中包含的標(biāo)準(zhǔn)NMOS器件的順序相匹配。標(biāo)準(zhǔn)NMOS模型使用Drainin Gatein Sourcein作為NMOS器件上引腳編號的約定。部分GaN供應(yīng)商提供的一些模型,所包含的符號和順序可能與此慣例有所不同。例如,Innoscience使用Gate Drain Source,而EPC使用Gatein Drainin Sourcein。無論供應(yīng)商如何列出名稱或網(wǎng)絡(luò)順序,都可以簡單地將粘貼的文本重新排序來匹配LTspice的約定,使之與Drainin Gatein Sourcein的約定相一致。由于此處介紹的子電路方法不依賴于任何符號、器件或模型庫,因此是否重新排序以匹配約定無關(guān)緊 要。即使本地安裝中包含相同器件的默認(rèn)庫或修改后的庫,該文件仍然可以被任何LTspice副本共享和打開。

          對任何修改而言,最后一步都是確認(rèn)模型能夠按照預(yù)期正常運行。運行修改完畢的仿真文件后,觀察柵極和開關(guān)波形以驗證仿真結(jié)果,并提供一個基準(zhǔn)來與實測波形進行比較。務(wù)必記住,無論模型多么準(zhǔn)確,仿真終究只是工具,其作用是幫助設(shè)計人員節(jié)省時間,避免發(fā)生高成本失誤,深入了解實際硬件的運行情況。從實際運行的硬件中獲取數(shù)據(jù),始終是驗證仿真結(jié)果的最終手段。將LTC7891評估板的結(jié)果(圖5)與開關(guān)上升和下降過程的SPICE仿真評估結(jié)果(圖6)進行比較??偹绤^(qū)時間相當(dāng)準(zhǔn)確,但實際硬件和測量工具的寄生參數(shù)在仿真中并不存在。

          圖5. EVAL-LTC7891-BZ硬件上的智能死區(qū)時間近零設(shè)置測量

          Figure 6. Smart near-zero dead time setting simulation waveforms from example circuit.

          圖6. 示例電路的智能死區(qū)時間近零設(shè)置仿真波形

          為此,必須堅持“始于仿真、終于基準(zhǔn)評估”的原則。如果模型沒有準(zhǔn)確刻畫PCB走線所產(chǎn)生的寄生效應(yīng),就無法在LTspice中優(yōu)化柵極電阻。為了實現(xiàn)優(yōu)化并最終完成設(shè)計,唯有對實際硬件進行細(xì)致的測量。導(dǎo)入GaN模型便是此過程的第一步。

          結(jié)論

          只要采用本文建議的方法,在LTspice中使用任何元件制造商提供的GaN器件模型都會很簡單,而且可以避免繁瑣的庫管理工作。這樣一來,電路設(shè)計人員便能專注于器件的精確仿真,而無需為符號、器件和庫的管理而煩惱。對應(yīng)采用此方法創(chuàng)建的文件,任何LTspice用戶都能輕松復(fù)用和共享。因此,現(xiàn)在終端用戶關(guān)注的重點是如何運用基于GaN的功率轉(zhuǎn)換技術(shù)來驗證設(shè)計構(gòu)想。


          關(guān)鍵詞: ADI LTspice GaN

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