全球領先的自動測試解決方案和先進機器人供應商泰瑞達（NASDAQ:TER）今日宣布推出一款基于UltraFLEXplus平臺的突破性高速PHY性能測試板卡——UltraPHY 224G。該解決方案與已量產并被多家客戶采用的UltraPHY 112G板卡形成更完善的產品組合。兩款解決方案均針對UltraFLEXplus設計，并借助泰瑞達先進的IG-XL軟件，方便用戶快速上手使用。

UltraPHY 224G由泰瑞達采用Multilane模塊研發(fā)，可為量產測試提供實驗室級別的信號生成與測量功能。該產品按照嚴格的軟硬件標準打造，為測試密度和信號保真度樹立新標桿，以滿足下一代芯片高速接口的需求。

泰瑞達副總裁兼計算測試事業(yè)部總經理Roy Chorev表示：“隨著泰瑞達UltraPHY 224G的推出，我們進一步擴充產品組合，以滿足下一代PHY更苛刻的測試要求?？蛻艨梢苑判模┤疬_對UltraPHY的投入既能支持當前的芯粒架構、先進封裝及KGD工作流程，也能滿足未來的技術需求?！?/p>

UltraPHY 112G針對當前的高速標準進行優(yōu)化，而UltraPHY 224G拓展性能邊界，可滿足數(shù)據(jù)中心和硅光子（SiPh）市場中新出現(xiàn)的數(shù)據(jù)速率需求。兩款板卡可在同一UltraFLEXplus平臺上同時使用，為客戶提供極大的靈活性，輕松應對當前和未來的各類高速接口測試需求。

每個UltraPHY 224G板卡提供8個全雙工差分通道和8個純接收差分通道，采用DSO + BERT架構，并支持高達112 Gb/s NRZ和224 Gb/s（112 Gbaud PAM4）的數(shù)據(jù)速率。與泰瑞達的UltraPHY 112G一樣，UltraPHY 224G具有極高的可擴展性，每個UltraFLEXplus平臺可支持多個板卡，并能隨著行業(yè)發(fā)展而靈活支持新出現(xiàn)的先進調制格式。

主要優(yōu)勢包括：

●   單一測試平臺滿足所有PHY測試需求–UltraPHY 224G和UltraPHY 112G均基于泰瑞達UltraFLEXplus設計。

●   平臺共存–同一UltraFLEXplus可同時搭載UltraPHY 224G和UltraPHY 112G，實現(xiàn)PHY測試的全數(shù)據(jù)速率覆蓋。

●   依托泰瑞達應用廣泛的IG-XL軟件，大幅簡化測試程序開發(fā)與調試診斷工作。

●   基于先進的實驗室技術，UltraPHY提供全面集成的量產測試解決方案，并由泰瑞達統(tǒng)一提供服務和支持。

●   集成DSO、AWG和BERT功能，可實現(xiàn)全面的PHY量產測試和特性分析。

●   信號傳輸帶寬超50GHz，其可靠性已在生產環(huán)境中得到驗證。

●   架構具有可擴展性，能支持當前和未來適用于SiPh及非SiPh芯片的電氣接口標準。

隨著高速PHY接口不斷演進，部署在同一測試平臺（泰瑞達UltraFLEXplus）上的泰瑞達UltraPHY成為一種能夠滿足未來需求的解決方案。