closed loop power control (FPC_MODE = '000', '001', and '010')

　　3.4.10 Demodulation performance in multipath fading with

　　closed loop power control (FPC_MODE = '000') and transmit diversity

　　3.4.11 Demodulation performance in multipath fading with

　　closed loop power control (FPC_MODE = '010') and transmit diversity

　　圖4 常見的衰落環(huán)境仿真的方法

　　在目前的許多測試系統(tǒng)中，大多采用在RF鏈路上插入衰落仿真的辦法( 如圖4所示)。

　　這種方法先把要衰落的信號進行下變頻，然后數字化。 衰落仿真的模型加入數字化的信號，然后數模變換、上變頻成RF信號。最后還要加入相應的噪聲信號。這里噪聲信號必須保證與衰落的模型分別加入，因為噪聲(AWGN)對于任何多徑信道都是獨立的。 因此，在這個過程中有兩個地方必須注意，一個是模數/數模變換時的變換損失，另一個是對噪聲信號幅度的校準。

　　變換損耗發(fā)生在每次把信號從模擬到數字取樣的時候，或從數字恢復到模擬的時候。這會帶來一定的系統(tǒng)誤差，只有把這個系統(tǒng)誤差降低到盡可能小的時候，衰落仿真的精度才是可靠的。

　　在往信號上面加AWGN的時候，至關重要的是幅度要準確，它必須在衰落之后加，以便保證背景噪聲沒有被衰落衰減。但是添加噪聲在改變載干比(C/N)的同時，也改變了總功率幅度。為了保證噪聲幅度準確，必須確定衰落后的載波功率幅度，這會消耗很長的時間，因為對輸出的功率要進行反復的測量才能得到統(tǒng)計上正確的幅度。

　　三、 基帶仿真與綜合測試儀結合實現(xiàn)CDMA、1xEVDO、W-CDMA抗衰落測試

　　由于圖4種介紹的衰落系統(tǒng)比較復雜，系統(tǒng)造價也比較高。 對于許多只對手機接收機衰落環(huán)境下性能測試的部門來說，成本負擔比較重。為此，安捷倫公司用成本低廉的基帶衰落仿真卡與手機綜合測試儀8960設計了一套價格低廉，使用方便的測試方案。 具體方案如圖5所示。

　　圖5 安捷倫科技基帶衰落仿真卡與8960結合的測試方案

　　基帶仿真是一種新的衰落仿真方法，它由安裝在PC中的PCI基帶仿真卡N5101A和衰落仿真軟件組成，它在數字部分完成衰落環(huán)境的仿真，并對噪聲信號校準。 8960 通過安裝504選件，可以與衰落仿真卡接口。 這樣，8960 要送給手機的信號，在基帶處理部分先送到基帶衰落仿真卡，添加了衰落環(huán)境和噪聲后，送回到8960的RF鏈路。對于手機來說，接收到的信號仿佛經過了衰落的環(huán)境。同時，用戶可以通過PC對8960進行遠程控制，完成自動測試。安捷倫公司的自動化測試軟件WTM已經把標準中定義的衰落環(huán)境測試定義成了標準的測試項目，用戶如果運行WTM測試軟件，只需選擇相應的測試項目，就可以方便地完成測試。

　　結論：衰落會對無線信號質量造成很大的影響，為了克服這種影響，移動設備的接收機要進行再衰落環(huán)境下的性能測試。安捷倫公司設計的基帶衰落仿真器與手機綜合測試儀相結合的測試方案配置簡單，價格便宜，使用方便，比較適合各種規(guī)模的研發(fā)機構或質量認證部門應用。