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          EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計應(yīng)用 > 應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案

          應(yīng)對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴(kuò)展解決方案

          作者: 時間:2012-05-21 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          任何有效的系統(tǒng)驗證策略都必須提出這樣的前提條件,即系統(tǒng)實際上指的是整套系統(tǒng),它包含的遠(yuǎn)非數(shù)字邏輯那么局限。換而言之, 一套有意義的解決必須能夠解決數(shù)模信號混合問題,必須能夠提供為軟件、RTOS的驗證運行所必須依賴的環(huán)境,并將其聯(lián)系在一套統(tǒng)一的解決之中。

          新的測試平臺組件正在進(jìn)入今天的驗證方法之中,斷言的使用可能對質(zhì)量和速度產(chǎn)生戲劇性的影響,因為驗證工作可以利用斷言來 開展。此外,某些更新的測試平臺組件正在出現(xiàn)。所有這些新的組件都將受到屬性的驅(qū)動,既而操控和利用屬性。這是未來的發(fā)展方向,現(xiàn)在開始已經(jīng)變得異常光 明。這種自動化、基于屬性的驗證方法將推動驗證性能的提高,這也是縮短驗證鴻溝的必要條件。這事實上相當(dāng)于10年之前設(shè)計路徑曾經(jīng)享受過的綜合的好處。驗 證綜合還在發(fā)展之中,并將從根本上改變探討和處理驗證問題的方式。


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