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          EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 新品快遞 > 安捷倫推出適用于電子測(cè)量的多功能臺(tái)式邊界掃描分析儀

          安捷倫推出適用于電子測(cè)量的多功能臺(tái)式邊界掃描分析儀

          —— 最新分析儀可提供從原型設(shè)計(jì)到批量生產(chǎn)的完整測(cè)試范圍
          作者: 時(shí)間:2013-02-20 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            科技公司(NYSE:A)日前宣布推出 Agilent 邊界掃描。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/142127.htm

            邊界掃描已經(jīng)成為工程師們?cè)趹?yīng)對(duì)日益增加的測(cè)試接入挑戰(zhàn)時(shí)必不可少的技術(shù)。 邊界掃描是一款功能廣泛、使用方便的電路板測(cè)試工具,能夠幫助用戶(hù)進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)和驗(yàn)證,以及在生產(chǎn)過(guò)程中重復(fù)進(jìn)行相同的 測(cè)試。

            該提供了直觀的操作界面,您只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關(guān)鍵特性包括:

          • 覆蓋擴(kuò)展技術(shù)和硅釘能力。
          • 直接使用STAPL標(biāo)準(zhǔn)文件用于CPLD/FPGA的燒錄。
          • 掃描路徑鏈接器(Scan Path Linker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。
          • 完全兼容的器件支持 IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.6 標(biāo)準(zhǔn)。

            測(cè)量系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理 Boon Khim Tan 表示:“在 iNEMI 調(diào)查中,90% 的受訪(fǎng)者認(rèn)為內(nèi)置自測(cè)()功能是產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵;而 60%的電路板設(shè)計(jì)人員表示自己需要使用 對(duì)電路板的性能進(jìn)行驗(yàn)證。 的接入方法主要是通過(guò)邊界掃描進(jìn)行接入。”

            “x1149 邊界掃描分析儀是為滿(mǎn)足業(yè)界更多 BIST 需求而特別設(shè)計(jì)的。我們持續(xù)致力于為客戶(hù)提供最佳的投資回報(bào),x1149 就是證明。它是一款多功能的儀器,可在從設(shè)計(jì)和驗(yàn)證到批量生產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用。所有儀器均具有相同的測(cè)試可過(guò)渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性,這是安捷倫解決方案的標(biāo)志性?xún)?yōu)勢(shì)。”



          關(guān)鍵詞: 安捷倫 分析儀 BIST x1149

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