美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動化測試前景報告》，就創(chuàng)新技術對當今測試測量應用的影響發(fā)表了研究結果。報告涵蓋了通信、國防航空、半導體、汽車和消費電子等眾多產業(yè)，力圖幫助工程師和管理者了解自動化測試領域的最新發(fā)展趨勢及其影響。

　　NI通過與眾多涉及不同領域的公司進行交流，對技術發(fā)展趨勢進行了廣泛的研究，從獨特的視角觀察測試測量市場。《2010自動化測試前景報告》結合了學術研究、商業(yè)咨詢、用戶調查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代表討論的結果。以此數(shù)據(jù)為基礎，該報告闡述了未來測試測量趨勢以及如何應對測試測量行業(yè)所面臨的市場挑戰(zhàn)與技術挑戰(zhàn)。

　　《2010自動化測試前景報告》從五個角度出發(fā)進行闡述：這五個角度分別是商業(yè)策略、構架、計算、軟件和硬件I/O。報告在每一類中詳細闡述了影響測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢、方法或技術。報告談論了以下五個主題：

　　· 標準化：開發(fā)通用的平臺，降低成本，在產品的整個生命周期中可重復利用測試系統(tǒng)

　　· 多通道RF測試：測試下一代無線設備需要一個從信號層面到軟件層面的并行測試架構

　　· Peer-to-Peer計算：越來越復雜的測試要求需要更高的性能和點對點計算構架

　　· 嵌入式設計與測試：通過實時測試軟件，工程師可以在測試階段復用他們在產品開發(fā)過程中建立的嵌入式系統(tǒng)模型

　　· 可重配置的儀器：基于FPGA的儀器通過引入硬件級的自定義特性，進一步提高了性能和靈活性