功率半導(dǎo)體晶元浪涌擊穿的分析與研究

• 整流橋擊穿短路失效，故障表現(xiàn)為橋堆內(nèi)部二極管晶元浪涌擊穿。本文從整流橋失效機(jī)理、器件結(jié)構(gòu)、生產(chǎn)過(guò)程可靠性等方面分析，通過(guò)采用X-ray、超景深微鏡、QT2等設(shè)備對(duì)器件進(jìn)行全面分析論斷。通過(guò)研究分析發(fā)現(xiàn)，此故障為晶元焊接后清洗不良所致，焊接過(guò)后晶元周?chē)嘤嗪噶衔辞逑锤蓛?，?dǎo)致晶元耐電壓能力下降。整改從清洗環(huán)節(jié)入手，通過(guò)更改清洗溶液比重，以及建立報(bào)警和可追溯機(jī)制，杜絕此故障發(fā)生。
• 關(guān)鍵字： 晶元  錫渣  清洗不良  浪涌擊穿  比重  202109