通過(guò)左移DRC設(shè)計(jì)規(guī)則檢查方法降低IC設(shè)計(jì)復(fù)雜性

• 最成功的半導(dǎo)體公司都知道，集成電路 （IC） 設(shè)計(jì)日益復(fù)雜，這讓我們的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)則檢查 （DRC） 方法不堪重負(fù)。迭代的“通過(guò)校正構(gòu)建”方法適用于更簡(jiǎn)單的自定義布局，但現(xiàn)在卻造成了大量的運(yùn)行時(shí)和資源瓶頸，阻礙了設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)有效驗(yàn)證其高級(jí)設(shè)計(jì)和滿(mǎn)足緊迫的上市時(shí)間目標(biāo)的能力。為了克服這種設(shè)計(jì)復(fù)雜性，主要半導(dǎo)體公司不斷從其生態(tài)系統(tǒng)合作伙伴那里尋找有效的工具。西門(mén)子 EDA 是一家大型電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化 （EDA） 公司，它提供了一種新的、強(qiáng)大的左移驗(yàn)證策略，他們對(duì)其進(jìn)行了評(píng)估并宣布它改變了他們?cè)缙谠O(shè)計(jì)階段的游
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