rds(on)測量 文章 最新資訊
用于檢測裸硅圓片上少量金屬污染物的互補(bǔ)性測量技術(shù)
- I.?前言本文旨在解決硅襯底上的污染問題，將討論三種不同的金屬污染。第一個(gè)是鎳擴(kuò)散，又稱為快速擴(kuò)散物質(zhì)[1]，它是從晶圓片邊緣上的一個(gè)污點(diǎn)開始擴(kuò)散的金屬污染。第二個(gè)是鉻污染，它是從Bulk體區(qū)內(nèi)部擴(kuò)散到初始氧化膜[2]，并在晶圓片上形成了一層較厚的氧化物。第三個(gè)是晶圓片邊緣周圍的不銹鋼污染。本文的研究目的是根據(jù)金屬和圖1所示的污染特征找到污染的根源。圖1 三個(gè)金屬污染示例的映射圖。從左至右：鎳擴(kuò)散的微掩膜缺陷圖；較厚的鉻氧化沉積層；晶圓片邊緣上不銹鋼污染電子晶圓片檢測(EWS)映射圖AI.&nb
- 關(guān)鍵字： 金屬污染 測量 熱處理 SPV TXRF
寬禁帶生態(tài)系統(tǒng)：快速開關(guān)和顛覆性的仿真環(huán)境
- 寬禁帶?材料實(shí)現(xiàn)了較當(dāng)前硅基技術(shù)的飛躍。 它們的大帶隙導(dǎo)致較高的介電擊穿，從而降低了導(dǎo)通電阻(RSP)。 更高的電子飽和速度支持高頻設(shè)計(jì)和工作，降低的漏電流和更好的導(dǎo)熱性有助于高溫下的工作。安森美半導(dǎo)體提供圍繞寬禁帶方案的獨(dú)一無二的生態(tài)系統(tǒng)，包含從旨在提高強(qiáng)固性和速度的碳化硅(SiC)二極管、SiC MOSFET到 SiC MOSFET的高端IC門極驅(qū)動(dòng)器。 除了硬件以外，我們還提供spice物理模型，幫助設(shè)計(jì)人員在仿真中實(shí)現(xiàn)其應(yīng)用性能，縮短昂貴的測試周期。我們的預(yù)測性離散建?？梢赃M(jìn)行系統(tǒng)級仿真
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蘋果LiDAR確實(shí)有測量功能 可進(jìn)行空間3D掃描
- 激光雷達(dá)(LiDAR)通常指「檢測和測距」，是一種革命性的掃描和測量工具。但蘋果(Apple) 的激光雷達(dá)無法達(dá)到可用于戶外測量和掃描專業(yè)激光雷達(dá)的水平，不過可以測量到距離5米的周圍物體以及進(jìn)行人員位置的追蹤。光電協(xié)進(jìn)會(huì)（PIDA）認(rèn)為，激光雷達(dá)的深度感測與蘋果的景深攝鏡頭以及先進(jìn)的影像算法相結(jié)合，有可能在未來成為強(qiáng)大的掃描平臺(tái)，而這些元素的緊密整合可為iPad Pro帶來了全新的AR體驗(yàn)。蘋果的LiDAR只要與Measurement App配合使用，將可進(jìn)行3D掃描、空間測量、物體辨識(shí)和分類，主要是針對
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無線水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)
- 簡介飲料生產(chǎn)、制藥廠、廢水處理廠等多個(gè)行業(yè)都依靠水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)對重要水質(zhì)指標(biāo)進(jìn)行測量和控制。定義水的物理、化學(xué)和生物學(xué)特性的參數(shù)可作為水質(zhì)指標(biāo)。例如：◆? ?物理：溫度和濁度◆?? 化學(xué)：pH值、氧化還原電位(ORP)、電導(dǎo)率和溶解氧◆?? 生物學(xué)：藻類和細(xì)菌本文重點(diǎn)討論歷來不可或缺但不可靠而造成實(shí)施負(fù)擔(dān)的化學(xué)測量參數(shù)。電化學(xué)是化學(xué)的一個(gè)分支，通過測量電子從一種反應(yīng)物到另一種反應(yīng)物的轉(zhuǎn)移來表征還原-氧化反應(yīng)的行為。電化學(xué)技術(shù)可以直接或間接用于檢測和
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英飛凌 650 V CoolSiC? MOSFET 系列為更多應(yīng)用帶來最佳可靠性和性能水平
- 近日，英飛凌科技股份公司進(jìn)一步擴(kuò)展其碳化硅（SiC）產(chǎn)品組合，推出650V器件。其全新發(fā)布的CoolSiC? MOSFET滿足了包括服務(wù)器、電信和工業(yè)SMPS、太陽能系統(tǒng)、能源存儲(chǔ)和電池化成、不間斷電源（UPS）、電機(jī)控制和驅(qū)動(dòng)以及電動(dòng)汽車充電在內(nèi)的大量應(yīng)用與日俱增的能效、功率密度和可靠性的需求。“隨著新產(chǎn)品的發(fā)布，英飛凌完善了其 600V/650V 細(xì)分領(lǐng)域的硅基、碳化硅以及氮化鎵功率半導(dǎo)體產(chǎn)品組合，”英飛凌電源管理及多元化市場事業(yè)部高壓轉(zhuǎn)換業(yè)務(wù)高級總監(jiān) Steffen Metzge r表示，“這凸顯了
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安世半導(dǎo)體推出采用LFPAK56封裝的0.57m?產(chǎn)品
- 奈梅亨，2020年2月19日：安世半導(dǎo)體，分立器件和MOSFET器件及模擬和邏輯集成電路器件領(lǐng)域的生產(chǎn)專家，今日宣布推出有史以來最低RDS(on)的功率MOSFET。今日推出的PSMNR51-25YLH已經(jīng)是業(yè)內(nèi)公認(rèn)的低壓、低RDS(on)的領(lǐng)先器件，它樹立了25 V、0.57 m?的新標(biāo)準(zhǔn)。該市場領(lǐng)先的性能利用安世半導(dǎo)體獨(dú)特的NextPowerS3技術(shù)實(shí)現(xiàn)，并不影響最大漏極電流(ID(max))、安全工作區(qū)(SOA)或柵極電荷QG等其他重要參數(shù)。?很多應(yīng)用均需要超低RDS(on)器件，例如OR
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工程師溫度傳感指南 | 了解設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，掌握解決方案！
- 在個(gè)人電子產(chǎn)品、工業(yè)或醫(yī)療應(yīng)用的設(shè)計(jì)中，工程師必須應(yīng)對同樣的挑戰(zhàn)，即如何提升性能、增加功能并縮小尺寸。除了這些考慮因素外，他們還必須仔細(xì)監(jiān)測溫度以確保安全并保護(hù)系統(tǒng)和消費(fèi)者免受傷害。眾多行業(yè)的另一個(gè)共同趨勢是需要處理來自更多傳感器的更多數(shù)據(jù)，進(jìn)一步說明了溫度測量的重要性：不僅要測量系統(tǒng)或環(huán)境條件，還要補(bǔ)償其他溫度敏感元件，從而確保傳感器和系統(tǒng)的精度。另外一個(gè)好處在于，有了精確的溫度監(jiān)測，無需再對系統(tǒng)進(jìn)行過度設(shè)計(jì)來補(bǔ)償不準(zhǔn)確的溫度測量，從而可以提高系統(tǒng)性能并降低成本。三大溫度設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)?? &nbs
- 關(guān)鍵字： 溫度 測量 監(jiān)測
Digi-Key Electronics宣布與Analog Devices就創(chuàng)新型MeasureWare平臺(tái)項(xiàng)目建立合作關(guān)系
- 美國 , 明尼蘇達(dá)州 , 錫夫里弗福爾斯市 - 2019 年 10 月 08 日全球電子元器件分銷商 Digi-Key Electronics 今天宣布，將與 Analog Devices 就全新創(chuàng)新型 MeasureWare 平臺(tái)建立合作關(guān)系。通過這種多傳感器平臺(tái)，Digi-Key 的客戶能夠立即獲得合格產(chǎn)品的可供貨數(shù)量和定價(jià)，從而著手開始設(shè)計(jì)。Digi-Key 全球供應(yīng)商管理副總裁 David Stein 表示：“Analog Device 選擇我們成為這一全新直觀平臺(tái)的合作伙伴，我們對此感到由衷地自
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ADI的MeasureWare為精確測量帶來變革，幫助用戶更好地解讀其世界
- 近日，中國北京——Analog Devices, Inc. (ADI)宣布推出MeasureWare，這是一套即插即用的硬件測量套件和軟件工具，可幫助滿足多個(gè)行業(yè)不斷增長的精確測量需求，其中包括精密農(nóng)業(yè)、設(shè)備健康監(jiān)測、電化學(xué)和其他需要精確測量的領(lǐng)域。用戶需要實(shí)時(shí)的數(shù)據(jù)洞察能力，但可能缺乏時(shí)間或相關(guān)的專業(yè)知識(shí)，無法吃透相應(yīng)的數(shù)據(jù)手冊或進(jìn)行復(fù)雜的固件開發(fā)，MeasureWare?的推出為這些用戶帶來了ADI的電子工程經(jīng)驗(yàn)。ADI的?MeasureWare?解決方案可將設(shè)備與周圍的
- 關(guān)鍵字： 測量 軟件
帶兩個(gè)RMS檢測器的集成雙向橋，用于測量RF功率和回波損耗
- 定向耦合器用于檢測RF功率，應(yīng)用廣泛，可以出現(xiàn)在信號(hào)鏈中的多個(gè)位置。本文探討ADI公司的新器件ADL5920，其將基于寬帶定向耦合器與兩個(gè)RMS響應(yīng)檢測器集成在一個(gè)5 mm×5 mm表貼封裝中。相比于要在尺寸和帶寬之間艱難取舍的傳統(tǒng)分立式定向耦合器，該器件具有明顯的優(yōu)勢，尤其是在1 GHz以下的頻率。在線RF功率和回波損耗測量通常利用定向耦合器和RF功率檢波器來實(shí)現(xiàn)。圖1中，雙向耦合器用于無線電或測試測量應(yīng)用中，以監(jiān)測發(fā)射和反射的RF功率。有時(shí)希望將RF功率監(jiān)測嵌入電路中，一個(gè)很好的例子是將兩個(gè)或更多信號(hào)
- 關(guān)鍵字： RF 測量 回波 功率
測量誤差如何界定？
- 測量精度是儀器最重要的參數(shù)指標(biāo)之一，大部分的儀器精度基本都是百分之一、千分之一、部分可以達(dá)到萬分之一，精度越高，代表測量的誤差越小，那么誤差是如何界定出來的呢? 一、誤差的基本概念及分析 在系統(tǒng)測量中我們知道被測量的真實(shí)值稱為真值。在一定的時(shí)間和空間內(nèi)，真值是一個(gè)客觀存在的數(shù)值。在測量過程中，即使選用精度最高的測量器具、測量儀器和儀表，并且沒有人為的失誤，要想測得真值也是不可能的。況且由于人類對客觀事物的認(rèn)識(shí)的局限性、測量方法的不完善性以及測量工作中常有的各種失誤等，更會(huì)使測量結(jié)果與真實(shí)值之間存在
- 關(guān)鍵字： 測量 PA8000
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