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解析PXI和cRIO電子穩(wěn)定程序硬件環(huán)仿真平臺(tái)開發(fā)
- ESP是汽車主動(dòng)安全領(lǐng)域技術(shù)的制高點(diǎn)，該項(xiàng)技術(shù)被國外大公司所壟斷，國內(nèi)尚處于研發(fā)階段。在ESP研發(fā)過程中，需要大量實(shí)車試驗(yàn)。該試驗(yàn)有兩大困難：一是試驗(yàn)具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，二是試驗(yàn)對場地要求很苛刻。所以，開發(fā)硬
- 關(guān)鍵字： cRIO PXI 電子穩(wěn)定程序 硬件
NI為美海軍提供通信測試設(shè)備
- 本地的一家高科技企業(yè)得到了美國海軍的合同，為海軍的監(jiān)視飛機(jī)提供通信接口集線器、同時(shí)設(shè)計(jì)相應(yīng)的數(shù)字測試設(shè)備(DTE)來驗(yàn)證該接口的初始功能，并且提供長達(dá)20年的持續(xù)驗(yàn)證用于現(xiàn)場維護(hù)。使用美國國家儀器公司的PXI平臺(tái)，ALE System Integration公司為該平臺(tái)提供了專業(yè)化的硬件集成和軟件開發(fā)方案。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW DTE設(shè)備
在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中將仿真與測量相結(jié)合
- 縮短產(chǎn)品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機(jī)構(gòu)的主要目標(biāo)。減少開發(fā)時(shí)間的方法之一是將設(shè)計(jì)和測試工作同步進(jìn)行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字： NI EDA 設(shè)計(jì)和測試
基于PXI總線的寬帶頻率計(jì)設(shè)計(jì)
- 頻率信號(hào)具有抗干擾性強(qiáng)，易于傳輸，易于保持信息完整性和可以獲得較高測量精度等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于日常生活、工業(yè)等各個(gè)領(lǐng)域，頻率測量成為信息提取、設(shè)備檢測等過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。頻率檢測作為電子測量領(lǐng)域最
- 關(guān)鍵字： PXI 總線 寬帶 頻率計(jì)設(shè)
PXI TAC 2010:展望未來自動(dòng)化測試關(guān)鍵技術(shù)
- 作為測試、測量和自動(dòng)化應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái)，PXI正在以年復(fù)合增長率17.6%的速度在多個(gè)行業(yè)得到應(yīng)用。而深受行業(yè)廠商及工程師歡迎的年度技術(shù)盛會(huì) PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇(PXI Technology and Application Conference，簡稱PXI
- 關(guān)鍵字： 2010 PXI TAC 自動(dòng)化測試
CompactRIO測試技術(shù)在油泵功能測試線中的應(yīng)用
- XLM2線功能測試臺(tái)主要承擔(dān)對油泵支架總成各項(xiàng)性能的檢測。主要針對通用公司以及福特公司的12種配套車型的油泵支架系統(tǒng)進(jìn)行測試。其主要測試參數(shù)包括：油體浮子液位阻值(TSG電阻)，油泵啟動(dòng)電流，CO接地電阻，DRV接地電阻，油泵轉(zhuǎn)動(dòng)極性以及產(chǎn)品條碼掃描等一系列關(guān)鍵參數(shù)。
- 關(guān)鍵字： NI 測試 COMPACTRIO
基于CompactRIO的發(fā)動(dòng)機(jī)連桿疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)研究
- 強(qiáng)度、剛度和疲勞壽命是衡量工程機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件可靠性的主要參數(shù)，疲勞破壞是機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件失效的主要原因之一(據(jù)統(tǒng)計(jì)，連桿60%到90%的破壞都是疲勞破壞)，而引起疲勞破壞的主要原因是動(dòng)態(tài)交變載荷。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW CompactRIO
獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)用于高性能嵌入式測量與數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用
- NI 發(fā)布了獨(dú)立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，能夠與超過50種傳感器I/O模塊兼容，實(shí)現(xiàn)靈活的混合信號(hào)測量與數(shù)據(jù)記錄，進(jìn)一步拓展了NI CompactDAQ平臺(tái)。 此獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)包含內(nèi)置雙核Intel處理器和板載存儲(chǔ)，可在單一系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)便攜式高性能處理任務(wù)。 使用NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，工程師可以自定義一個(gè)數(shù)據(jù)記錄或嵌入式監(jiān)控系統(tǒng)，在同一個(gè)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集、分析和顯示。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW
基于PXI的無源干擾設(shè)備測試診斷系統(tǒng)
- 本文采用PXI總線和LabVIEW技術(shù)組建了一個(gè)用于無源干擾設(shè)備二線檢測維修的測試診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)利用NI公司的 ...
- 關(guān)鍵字： PXI 無源干擾 設(shè)備測試 診斷系統(tǒng)
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