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          ni-pxi 文章
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          使用NI LabVIEW對手機LCD組件進行靈活可靠的自動化測試
          
                                                            
            
                    	
          • 我們使用美國國家儀器公司的PXI平臺開發(fā)了一個高可靠和靈活的測試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來完成對LCD屏幕的檢測，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測試所需的圖形信號，使用模擬輸出模塊檢測麥克風，使用模擬輸入模塊測試測試實時時鐘電池，揚聲器和屏幕背光燈(對電流損耗進行測試)。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  LCD  PXI                          
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          NI發(fā)布全新Single-Board RIO嵌入式設(shè)備
          
                                                            
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級嵌入式設(shè)備，配備了實時處理器、Spartan-6現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè)，可用于實現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應用。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  嵌入式  處理器                          
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          RF WCDMA基準比較測試白皮書
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 通過與傳統(tǒng)的儀器進行比較，了解軟件定義的PXI RF儀器在速度上的優(yōu)勢。如WCDMA測量結(jié)果所示，基于多核處理器并行執(zhí)行的LabVIEW測量算法與傳統(tǒng)儀器相比可以實現(xiàn)明顯的速度提升。
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        NI  RF  PXI                          
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          使用LabVIEW和FPGA來創(chuàng)建一個自動化的微控制器測試系統(tǒng)
          
                                                            
            
                    	
          • 對于之前的應用程序測試平臺，我們使用公司內(nèi)部開發(fā)的控制器板，但該板需要一套單獨的兼容工具鏈來下載這些應用...
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          • 關(guān)鍵字：
                        LabVIEW  自動測試系統(tǒng)  NI                          
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          NI5665與傳統(tǒng)儀器對比演示-設(shè)置與細節(jié)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 本文討論了巔峰對決：NI 5665 與傳統(tǒng)臺式儀器對比 這一視頻中所演示的設(shè)置細節(jié)。在此演示中，比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個儀器的技術(shù)指標對比，而是現(xiàn)場測試的對比。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  測試  5665                          
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          GPS接收器測試
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 從波音 747 客機的導航操作、汽車駕駛每天都會使用的 GPS 導航系統(tǒng)，到尋寶者要找到深藏于森林某處的寶藏，GPS 技術(shù)已經(jīng)迅速融入于多種應用中。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  GPS                          
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          設(shè)定相位同調(diào)RF量測系統(tǒng)：從MIMO到波束賦形
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 自從傳送出第一筆無線電波之后，工程師就持續(xù)發(fā)明新方法，以優(yōu)化電磁微波訊號。RF 訊號已廣泛用于多種應用，其中又以無線通信與 RADAR 的 2 項特殊應用正利用此常見技術(shù)。就本質(zhì)而言，此 2 項應用的獨到之處，即是利用電磁波的空間維度 (Spatial dimension)。直到今天，許多無線通信系統(tǒng)整合了多重輸入/輸出 (MIMO) 天線架構(gòu)，以利用多重路徑的訊號傳播 (Propagation) 功能。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  RF  MIMO                          
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          許多儀器控制總線對一個LabVIEW
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 在過去的20年中，出現(xiàn)了許多可以用來控制儀器的通信總線。在整個過程中，NI LabVIEW一直是連接并控制儀器的軟件。隨著新型儀器控制總線的出現(xiàn)，NI繼續(xù)對LabVIEW進行創(chuàng)新，提供最好的儀器控制體驗。使用LabVIEW，就可以完成以下任務：
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  LabVIEW                          
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          決定無線測試系統(tǒng)未來的三個趨勢
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 本文將說明無線領(lǐng)域的三個趨勢，這三個趨勢不僅影響RF測試儀器的設(shè)計，還影響工程師使用這些工具的方式。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  虛擬儀器                          
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          PXI規(guī)范概覽與最新發(fā)展
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 縱觀整個自動化測試領(lǐng)域，我們可以看到一些明顯的趨勢：從設(shè)計到生產(chǎn)的每個階段，不斷提高的信號速率要求測試設(shè)備緊跟高速信號的測試要求;單一待測設(shè)備往往集成了多種不同的標準和協(xié)議，這就需要測試系統(tǒng)能夠足夠靈活地適應不斷更新的標準;從商業(yè)角度考慮，縮短產(chǎn)品投放市場時間的壓力也與日俱增，這就需要進一步縮短測試時間，然而另一方面往往又需要進行更多的測試項目保證產(chǎn)品質(zhì)量;此外，對制造業(yè)的自動化測試而言，測試設(shè)備的體積和功耗已經(jīng)無法再隨著測試需求線形增長。
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          • 關(guān)鍵字：
                        PXI  PCI                          
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          RF WCDMA基準比較測試
          
                                                            
            
                    	
          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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          • 關(guān)鍵字：
                        基準比較測試  RF  WCDMA  PXI  RF儀器                          
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          NI 5665 與傳統(tǒng)儀器對比演示-設(shè)置與細節(jié)
          
                                                            
            
                    	
          • 概覽本文討論了巔峰對決：NI 5665 與傳統(tǒng)臺式儀器對比 這一視頻中所演示的設(shè)置細節(jié)。在此演示中，比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個儀器的技術(shù)指標對比，而是現(xiàn)場測試的對比。硬
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          • 關(guān)鍵字：
                        5665  NI  儀器  對比                            
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          構(gòu)建PXI系統(tǒng)的五點考慮
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • PXI平臺的出現(xiàn)為自動化測試提供了一種新的思路。標準化的商業(yè)技術(shù)讓PXI技術(shù)在過去十五年中以驚人的速度在測試和控制應用領(lǐng)域得到廣泛的接受，已經(jīng)成為主流的模塊化儀器平臺。由于PXI是一種模塊化儀器平臺，與傳統(tǒng)儀器相比有其自身的特點，因此在選擇PXI平臺產(chǎn)品與供應商時也有更多考慮。
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          • 關(guān)鍵字：
                        NI  PXI  201206                          
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          NI LabVIEW和DIAdem用于快速遙測數(shù)據(jù)管理
          
                                                            
            
                    	
          • Author(s):Omar Mussa - Northrop Grumman Space TechnologyIndustry:Aerospace/AvionicsProducts:LabVIEW, DIAdemThe Challenge:創(chuàng)建成本低廉的方法，用于對二進制遙測數(shù)據(jù)文件進行快速定位、組織以及分析。The Sol
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          • 關(guān)鍵字：
                        LabVIEW  DIAdem  NI  遙測                            
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          PXI平臺在電子制造業(yè)的應用
          
                                                            
            
                    	
          • 前言隨著技術(shù)的演進及市場需求的改變，電子制造及測試的方式也隨之變化. 二十一世紀人們對產(chǎn)品技術(shù)的要求提升,以及產(chǎn)品生命周期的短縮和價格的壓力讓電子制造業(yè)者不得不思考是否有另一種測試平臺，可以比傳統(tǒng)PC，GPI
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          • 關(guān)鍵字：
                        PXI  電子  制造業(yè)                            
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