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          NI參加2012 TD-LTE測試技術研討會
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術研討會。NI在此研討會上發(fā)表了題為"重新定義移動通信測試——從研發(fā)驗證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業(yè)市場經理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"。
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          • 關鍵字：
                        NI  TD-LTE  通信                          
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          NI PXI矢量網絡分析儀助半導體移動設備制造商降低測試成本
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經進一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
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          • 關鍵字：
                        NI  分析儀  PXIe-5632                          
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          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構讓測試設置變得更為容易，擴展了測試和報告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時進行這兩項任務。
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          • 關鍵字：
                        NI  TestStand  測試系統(tǒng)                          
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          設計壽命更長的自動測試系統(tǒng)
          
                                                            
                    
          
                
          
                                
          
                    
          儀器 ? 變革進行時
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設計盛會”中國站于11月16日在北京萬達索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進行時”為主題，向近千位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動測試測量、控制和設計領域及創(chuàng)新技術應用方面一直所做的努力。
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          • 關鍵字：
                        NI  測試測量  嵌入式                          
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          從GBIP到PXI--量測技術發(fā)展簡史
          
                                                            
            
                    	
          • 前言對于當今的電子工業(yè)而言，從組件到系統(tǒng)、設計到生產，量測工作皆是不可或缺的一環(huán)。工廠必須借助量測獲知...
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          • 關鍵字：
                        GBIP  PXI  量測技術                          
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          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構讓測試設置變得更為容易，擴展了測試和報告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時進行這兩項任務。
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          • 關鍵字：
                        NI  自動化測試                          
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          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡化自動化測試的開發(fā)和報告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數據記錄和報告生成方法，適用于并行測試，還能夠提升測試吞吐量。
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          • 關鍵字：
                        NI  測試                          
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          復雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測試解決方案
          
                                                            
            
                    	
          • 美國國家儀器公司(NI)在汽車電子領域已經耕耘了多年，在半導體技術與汽車融合的大趨勢下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪了NI公司汽車電子方面的產品經理Noah Reading，聽他來講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
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          • 關鍵字：
                        NI  ECU  汽車電子                          
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          十五年磨礪 PXI應用迎來黃金時代
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 基于PCI的PXI標準從1997年被提出以來，作為挑戰(zhàn)存在已久的VXI出現的新鮮面孔，借助PC平臺的快速發(fā)展，PXI技術以驚人的速度在測試和控制應用領域得到廣泛應用。在PXI快速發(fā)展的過程中，1998年成立的PXI系統(tǒng)聯(lián)盟起了重要的推廣作用，系統(tǒng)聯(lián)盟在1999年就達到了50家，為PXI的起跑提供了強有力的支撐。
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          • 關鍵字：
                        PXI  測量測試  201210                          
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          LabVIEW系統(tǒng)設計軟件對數字開發(fā)的影響
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 長期以來的預測趨勢揭示了整個系統(tǒng)設計流程中的設計和測試趨于統(tǒng)一，這兩個先前獨立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時間并獲得更好的整體質量，而這些優(yōu)勢都歸功于在創(chuàng)建設計的同時集成了測試定義和實現。在系統(tǒng)設計過程中，從仿真到實現以及最終系統(tǒng)部署，都可以對這些早期測試平臺進行重用。
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          • 關鍵字：
                        NI  LabVIEW  FPGA                          
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          整合高性能儀器和FPGA 實現最佳WLAN測量
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 在下一代無線局域網白皮書中已經討論了最新的802.11標準存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標準的測試設備。大多數測試工程師發(fā)現使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經無法適用于該情況。出現該問題的原因十分簡單：測試工程師急需各種資源，主要包括時間、預算和空間。
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          • 關鍵字：
                        NI  FPGA  WLAN                          
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          WLAN測量的最佳選擇：NI PXI與FPGA革新性應用優(yōu)勢
          
                                                            
            
                    	
          • 概述在下一代無線局域網白皮書中已經討論了最新的802.11標準存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標準的測試設備。大多數測試工程師發(fā)現使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經無法適用于該情
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          • 關鍵字：
                        WLAN  FPGA  PXI  測量                            
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          泛華恒興推出基于PXI總線的RAID陣列卡
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 近日，北京泛華恒興科技有限公司(簡稱：泛華恒興)推出了一款基于PXI總線的RAID陣列卡——PXI-3702。該卡最多可以板載4個SATA硬盤，為用戶提供數據備份和存儲空間擴展，最大讀寫速度可以達到80MB/S。
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          • 關鍵字：
                        泛華恒興  RAID  PXI-3702                          
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          NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍牙技術測試解決方案
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍牙(BLE)技術測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設計的測試系統(tǒng)。
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          • 關鍵字：
                        NI  FPGA  WLAN                          
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