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          micro:bit 文章 最新資訊

          耗電不到10µA、帶有邏輯輸出的微型光傳感器

          • 在便攜式儀表中,一種耗電極低的光檢測電路可用來自動(dòng)監(jiān)測背景光。該功能可以很容易地通過一個(gè)邏輯門或施密特觸發(fā)器實(shí)現(xiàn),但這種方法會(huì)消耗可觀的電源電流。IC1電路(圖1)提供了另一種更好的方案。 圖1. 這個(gè)光傳感器
          • 關(guān)鍵字: 輸出  微型  傳感器  邏輯  帶有  不到  10µ    耗電  

          一種單端10-bit SAR ADC IP核的設(shè)計(jì)

          • 摘要:本設(shè)計(jì)通過采用分割電容陣列對(duì)DAC進(jìn)行優(yōu)化,在減小了D/A轉(zhuǎn)換開關(guān)消耗的能量、提高速度的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)了一款采樣速度為1MS /s的10-bit單端逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。使用cadence spectre工具進(jìn)行仿真,仿真結(jié)果表
          • 關(guān)鍵字: IP  設(shè)計(jì)  ADC  SAR  10-bit  單端  

          基于內(nèi)裝測試(BIT)技術(shù)的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

          • 引言  內(nèi)裝測試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國在軍用測試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念,其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力,同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來,以航天航空等國
          • 關(guān)鍵字: BIT  內(nèi)裝  測試  故障診斷    

          航天測控:系統(tǒng)級(jí)BIT設(shè)計(jì)及BIT驗(yàn)證技術(shù)

          • 系統(tǒng)級(jí)BIT是監(jiān)控系統(tǒng)關(guān)鍵功能、檢測隔離系統(tǒng)級(jí)故障的主要手段和方法,也是可測試性設(shè)計(jì)的關(guān)鍵部分。而系...
          • 關(guān)鍵字: 航天測控  BIT  驗(yàn)證技術(shù)  故障注入  

          低功耗應(yīng)用中µC外圍設(shè)備的選擇原則介紹

          • 設(shè)計(jì)出色的低功耗應(yīng)用需要同時(shí)考慮終端應(yīng)用的需求和各種可用的 micro;C 特性?! ≡O(shè)計(jì)人員可能會(huì)提出以下問題:是否能夠重新充電?尺寸能夠做到多小?典型的工作時(shí)間是多少?速度必須多快?要連接哪種類型的外圍器件?這
          • 關(guān)鍵字: micro  低功耗  外圍設(shè)備    

          Molex重推設(shè)計(jì)增強(qiáng)型Micro SAS連接器

          • 全球領(lǐng)先的全套互連產(chǎn)品供應(yīng)商Molex公司重新推出一系列無鹵素、無鉛的微型串行附件SCSI (Micro Serial Attached SCSI,Micro SAS)連接器產(chǎn)品,用于1.8英寸存儲(chǔ)器。這些Micro SAS連接器現(xiàn)采用增強(qiáng)型設(shè)計(jì),包括雙存儲(chǔ)器堆疊型插座,以及集成接地層(integrated ground plane)和針腳保護(hù)蓋,能夠在緊湊型存儲(chǔ)應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)更高的可靠性。
          • 關(guān)鍵字: Molex  連接器  Micro SAS  

          一種用于13 bit 40 MS/s流水線ADC中的采樣保持電路

          • 近年來,隨著通信和多媒體市場的快速增長,數(shù)字系統(tǒng)無論在處理能力還是處理速度上都取得了飛速的發(fā)展,因此對(duì)作為模擬信號(hào)通向數(shù)字信號(hào)橋梁的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的性能要求也越來越高 [1]。在各種ADC結(jié)構(gòu)中,流水線ADC在
          • 關(guān)鍵字: bit  ADC  40  MS    

          實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)µC/OS-II在ARM7上的移植

          • 1 引言目前,嵌入式系統(tǒng)在家電、移動(dòng)電話、PDA等各種領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛,程序設(shè)計(jì)也越來越復(fù)雜,這就需要采用一個(gè)通用的嵌入式操作系統(tǒng)來對(duì)其進(jìn)行管理和控制。移植了操作系統(tǒng)的嵌入式系統(tǒng)開發(fā),可大大減輕程序員的負(fù)
          • 關(guān)鍵字: ARM7  移植  C/OS-II  µ  操作系統(tǒng)  實(shí)時(shí)  

          Molex推出用于超小型消費(fèi)電子的micro-SIM卡插座

          • 全球領(lǐng)先的全套互連產(chǎn)品供應(yīng)商Molex公司宣布推出兩個(gè)專為超薄智能手機(jī)、平板電腦、GSM/UMTS調(diào)制解調(diào)器和PC卡等便攜通信設(shè)備而開發(fā)的推挽式 (push-pull) 6路和8路micro-SIM卡插座系列。Molex78727系列插座的高度為1.40 mm,并帶有檢測開關(guān);78646系列的高度則為1.45 mm,不帶檢測開關(guān)。
          • 關(guān)鍵字: Molex  micro-SIM卡插座  78727  

          16-bit MCU實(shí)現(xiàn)超低功耗運(yùn)動(dòng)檢測

          • 諧振LC傳感器技術(shù)用于運(yùn)動(dòng)檢測已有數(shù)年,包括流量計(jì)量以及其它低速轉(zhuǎn)動(dòng)檢測系統(tǒng)等。幾乎在所有情況下,推動(dòng)上...
          • 關(guān)鍵字: 16-bit  MCU實(shí)  LC  傳感器  

          隔離型µModule電源轉(zhuǎn)換器改善了信號(hào)測量準(zhǔn)確度

          • 引言
            對(duì)于因變化不定的電位所引起的接地平面中的擾動(dòng) (常被稱為接地環(huán)路) 而言,正確實(shí)施的電流隔離是一種有效的防護(hù)舉措。由于物理限制的原因,PCB 上的電氣組件必需在不同的物理位置與接地平面相連。因此,當(dāng)每個(gè)
          • 關(guān)鍵字: 信號(hào)  測量  準(zhǔn)確度  Linear  改善  轉(zhuǎn)換器  µ    Module  

          采用16-bit MCU實(shí)現(xiàn)超低功耗運(yùn)動(dòng)檢測

          • 諧振 LC 傳感器技術(shù)用于運(yùn)動(dòng)檢測已有數(shù)年,包括流量計(jì)量以及其它低速轉(zhuǎn)動(dòng)檢測系統(tǒng)等。幾乎在所有情況下,推動(dòng)上述傳感器設(shè)計(jì)發(fā)展的共同主線都是低功耗解決方案的需求,它通常為電池供電設(shè)備的低功耗解決方案。通過模
          • 關(guān)鍵字: 功耗  運(yùn)動(dòng)  檢測  超低  實(shí)現(xiàn)  16-bit  MCU  采用  

          bit和byte的關(guān)系及區(qū)別

          • bit和byte的關(guān)系:一byte等于8bitbit意為“位”或“比特”,是計(jì)算機(jī)運(yùn)算的基礎(chǔ),屬于二進(jìn)制的范籌; Byte意為“ ...
          • 關(guān)鍵字: bit  byte  區(qū)別  

          ZLG成為Energy Micro中國區(qū)合作伙伴

          • 2011年12月14日上午10時(shí),廣州周立功單片機(jī)發(fā)展有限公司和節(jié)能微控器和無線射頻供應(yīng)商Energy Micro公司合作信息發(fā)布會(huì)在深圳香格里拉酒店舉行。發(fā)布會(huì)上,Energy Micro正式宣布ZLG成為其基于ARM Cortex內(nèi)核的超低功耗Gecko MCU 和EFR4 Draco無線射頻產(chǎn)品的中國代理商。
          • 關(guān)鍵字: 周立功  Energy Micro  單片機(jī)   

          基于BIT技術(shù)的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

          • 引言  內(nèi)裝測試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國在軍用測試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念,其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力,同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來,以航天航空等國
          • 關(guān)鍵字: BIT  裝備控制  系統(tǒng)  故障診斷    
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          micro:bit介紹

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