rds(on)測量 文章 最新資訊
無需鉗位電路實現(xiàn)動態(tài)導(dǎo)通電阻RDS(on)的測量技術(shù)
- _____動態(tài)導(dǎo)通電阻(RDS(on))是電源轉(zhuǎn)換器設(shè)計人員理解電荷俘獲效應(yīng)影響的重要參數(shù)。然而,關(guān)于其測量技術(shù)的知識體系仍相對較新。傳統(tǒng)的動態(tài)RDS(on)測量技術(shù)依賴于二極管鉗位電路,使示波器能夠以足夠的分辨率測量漏源電壓,而不會使示波器輸入過載。泰克為4、5和6系列MSO示波器推出的寬禁帶雙脈沖測試(WBG-DPT)測量軟件引入了一種新的軟件鉗位方法,采用獨特的雙探頭技術(shù),無需使用鉗位電路。測量動態(tài)RDS(on)的挑戰(zhàn)動態(tài)RDS(on)是指FET在開關(guān)過程中導(dǎo)通時,漏極與源極端子之間的平均電阻。漏源
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AI 將如何改變測試和測量
- 人工智能 (AI) 有可能改變產(chǎn)品生命周期的每個階段,從設(shè)計和制造到運營和維護。雖然這種說法似乎很明顯,但測試和測量產(chǎn)品和流程的確切情況仍然成為焦點(圖 1)。正如在測試和測量這樣一個眾所周知的保守行業(yè)中所預(yù)料的那樣,迄今為止,AI 主要用于適度的、漸進的改進。解析文檔以幫助用戶設(shè)置和作產(chǎn)品的工具顯然是一個起點。更進一步,一些產(chǎn)品現(xiàn)在提供基于 AI 的功能,例如神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),或針對特定參數(shù)的基于 AI 的優(yōu)化。對于管理大型數(shù)據(jù)集的科學(xué)家和工程師來說,用于后處理、檢測異常、跟蹤趨勢和指導(dǎo)決策的軟件工具非常強大,
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用于活動跟蹤和高g沖擊測量的傳感器
- 意法半導(dǎo)體(ST)推出了一款傳感器,該傳感器將慣性測量單元(IMU)與嵌入式人工智能相結(jié)合,并針對活動跟蹤和高沖擊測量進行了優(yōu)化。LSM6DSV320X 傳感器是行業(yè)首創(chuàng)的常規(guī)尺寸模塊,尺寸為 3 x 2.5 mm,內(nèi)置 AI 處理功能,可連續(xù)記錄運動和沖擊。創(chuàng)新的雙加速度計設(shè)備可確保高達 16 克的活動跟蹤和高達 320 克的沖擊檢測的高精度。這兩個加速度計采用意法半導(dǎo)體獨有的先進技術(shù),旨在實現(xiàn)共存和最佳性能。其中一款加速度計經(jīng)過優(yōu)化,可在活動跟蹤中實現(xiàn)最佳分辨率,最大范圍為 ±16g。另一個加速度計可
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微納電容測量挑戰(zhàn):如何精準測量fF級超低電容?
- 典型的半導(dǎo)體電容在pF或nF范圍內(nèi)。許多商業(yè)上可用的LCR表或電容計補償后可以使用適當?shù)臏y量技術(shù)來測量這些值,然而,一些應(yīng)用需要在飛秒法(fF)或1e-15范圍內(nèi)進行非常靈敏的電容測量。這些應(yīng)用包括測量金屬到金屬的電容,晶片上的互連電容,MEMS器件,如:開關(guān),納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當?shù)膬x器和測量技術(shù),這些非常小的電容很難進行測量。使用4200A-SCS參數(shù)分析儀配備的4215-CVU(CVU),用戶能夠測量大范圍的電容,<1pF非常低的電容值也能測到。CVU采用獨特的電路設(shè)計,并由
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發(fā)光二極管的限流電阻如何取值
- 發(fā)光二極管主要部分也是一個PN結(jié),但是發(fā)光二極管導(dǎo)通后,其壓降一般都是2V左右,有的發(fā)光二極管的壓降可以達到3V。一般的普通二極管壓降也就0.5V左右,比如肖特基二極管。發(fā)光二極管一般用作指示燈。比如電源指示燈,通信指示燈,比如串口收發(fā)數(shù)據(jù)時,通過發(fā)光二極管閃爍,來表示正在收發(fā)數(shù)據(jù)。在電路設(shè)計中,需要串聯(lián)一個限流電阻。這個限流電阻的大小如何取值?首先我們應(yīng)該知道發(fā)光二極管的正向電壓、正向電流。某一個發(fā)光二極管的正向電壓為2.5V,正向電流為5mA,這個正向電流有個取值范圍,電流太大,可能燒毀二極管,電流太
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使用示波器對三相電機驅(qū)動器進行測量
- 本指南將介紹如何使用泰克8通道5系列B MSO示波器的逆變器、電機和驅(qū)動器分析軟件對變頻驅(qū)動器的輸入、直流母線和輸出進行穩(wěn)定、準確的電氣測量,以及對電機進行機械測量。大多數(shù)現(xiàn)代電機驅(qū)動系統(tǒng)使用某種調(diào)制形式來控制電機頻率,從而控制電機速度。在大多數(shù)情況下,此類變頻驅(qū)動器 (VFD) 通過輸出精心控制的脈沖寬度調(diào)制 (PWM)波形來實現(xiàn)這一點。此類系統(tǒng)通常以三相形式輸出功率,因為三相是電機的最佳配置。自電氣工程誕生以來,三相交流感應(yīng)電機(ACIM) 一直是工業(yè)領(lǐng)域的主力。它們可靠、高效、成本低且?guī)缀醪恍枰S護
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抖動-示波器測量的最高境界
- 抖動話題是示波器測量的最高境界,也是最風(fēng)云變換的一個話題,這是因為抖動是示波器測量的諸多功能中最和“數(shù)學(xué)”相關(guān)的。 玩數(shù)學(xué)似乎是需要一定境界的。 1,抖動和波形余輝的關(guān)系有一種比較傳統(tǒng)的測量抖動的方法,就是利用余輝來查看信號邊沿的變化,然后再用光標測量變化的大?。ㄈ鐖D1所示)。后來高端一點的示波器具有“余輝直方圖”的功能,利用余輝直方圖和相關(guān)參數(shù)可以自動測量出信號邊沿變化的余輝的變化范圍。 在上個世紀90年代初示波器有了真正意義的“測量統(tǒng)計”功能之后,這個方法就逐漸被淘汰了。&n
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【對話前沿KOL】探析電子測試和測量行業(yè)發(fā)展趨勢
- Boen提倡采用全面的協(xié)作方法來推進AI/ML技術(shù),她認為創(chuàng)新對于促進社會進步至關(guān)重要,可以改變我們的工作和生活方式。她的理由是,技術(shù)開發(fā)能夠促使該行業(yè)推出新的市場解決方案。泰克戰(zhàn)略技術(shù)和先進集成電路 (AICS) 總監(jiān)Sarah Boen與Electronic Specifier對話,以下內(nèi)容為本文對話要點。測試和測量行業(yè)在過去十年中取得了巨大發(fā)展,目前有哪些關(guān)鍵變化正在改變行業(yè)格局?過去二十年,我有幸在測試和測量行業(yè)工作,我想說,該行業(yè)當前充滿了巨大且振奮人心的變化。測試和測量行業(yè)過去提供通用解決方案
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MV.C機器視覺高光譜成像系統(tǒng)及其應(yīng)用
- 高光譜成像技術(shù)是近些年來迅速發(fā)展起來的、一種全新的影像分析檢測技術(shù),它是集圖像傳感器、精密光學(xué),精密機械、計算機信息處理技術(shù)于一體的綜合性技術(shù)。在高光譜數(shù)據(jù)采集過程中,成像光譜儀以納米級的光譜分辨率,以幾十或幾百個波段對檢測目標成像,形成海量數(shù)據(jù)的數(shù)字影像集(也稱數(shù)據(jù)立方體Data Cube),實現(xiàn)了目標的光譜信息、空間信息及輻射信息的同步獲取,因而在目標檢測和目標識別領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用價值和廣闊的發(fā)展前景。高光譜成像相比傳統(tǒng)的影像技術(shù)有以下的優(yōu)點在相應(yīng)的光譜范圍內(nèi),具有上百個光譜通道的影像數(shù)據(jù),影像上每
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如何在有限空間里實現(xiàn)高性能?結(jié)合最低特定RDS(On)與表面貼裝技術(shù)是個好方法!
- SiC FET在共源共柵結(jié)構(gòu)中結(jié)合硅基MOSFET和SiC JFET,帶來最新寬帶隙半導(dǎo)體技術(shù)的性能優(yōu)勢,以及成熟硅基功率器件的易用性。SiC FET現(xiàn)可采用表面貼裝TOLL封裝,由此增加了自動裝配的便利性,同時減少了元件尺寸,并達成出色的熱特性,在功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中實現(xiàn)了功率密度最大化和系統(tǒng)成本最小化。寬帶隙(WBG)半導(dǎo)體開關(guān),如碳化硅共源共柵結(jié)構(gòu)FET(以下簡稱“SiC FET”)和SiC MOSFET的性能與其封裝密切相關(guān)。在純技術(shù)層面,納秒級的開關(guān)速度和較低的比導(dǎo)通電阻帶來非常低的損耗;在相同的芯片
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Diodes 公司的高精度雙向電流顯示器能以較低的 BoM 成本達到精確測量的結(jié)果
- Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq:DIOD) 今日宣布推出一系列采用高穩(wěn)定性零點漂移架構(gòu)的雙向電流顯示器。這些裝置能夠在廣泛的共模電壓范圍內(nèi)準確測量極低感測電壓。主要產(chǎn)品應(yīng)用項目包括筆記本電腦、電池充電器、工業(yè)伺服裝置、服務(wù)器、服務(wù)器農(nóng)場中的電源機架和機器人系統(tǒng)。ZXCT199 系列電流顯示器裝置有六款產(chǎn)品可供選擇,每一款都有一個高精準運行的精密截波穩(wěn)定運算放大器。其低補償電壓使得電流感應(yīng)在分流器上的最大壓降,低至 10mV 滿刻度。這么一來便能使用平價、低值的分流電阻器組件來測量大電
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從測量入手,判斷 AI 算法的潛力
- 人工智能(AI)算法包含三個基本核心要素:1) 具備測量能力;2) 知道其中有多少測量需要進一步處理;3) 并行處理多路輸入的能力。是德科技全球企業(yè)和產(chǎn)品營銷副總裁 Jeff Harris系統(tǒng)的潛力是指它的可測性以及可達到的測量深度,而潛力的發(fā)揮則指的是決定系統(tǒng)必須將哪些方面的測量結(jié)果發(fā)送給處理器進一步處理。最后,傳感器融合指的是了解如何以正確的比例將不同傳感器的測量結(jié)果合并在一起,算法的智商有多高,推理的潛力有多大,這是我們探索的關(guān)鍵。通過反饋環(huán)路增強傳感器融合,算法將能夠校驗和糾正自身的邏輯
- 關(guān)鍵字: 是德科技 測量 AI
imc發(fā)布NVH聲學(xué)與振動測量系統(tǒng)
- 圖:新版imc WAVE 2022與imc CRONOSflex測量模塊,聯(lián)手提供性能卓越的NVH數(shù)據(jù)分析。 imc 測試測量面向全球用戶,發(fā)布其全新版 imc WAVE 2022 — 這是一款功能強大聲學(xué)與振動的軟件,聯(lián)合性能卓越的imc數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),進行符合標準的噪聲與振動分析。imc WAVE 2022由四個可相互組合的分析儀組成,根據(jù)標準提供聲功率評估、結(jié)構(gòu)分析、振動和旋轉(zhuǎn)機械等綜合分析功能。軟件操作簡單,只需幾步就能指導(dǎo)用戶從配置、校準、測量到專業(yè)報告,縮短設(shè)置時間,并快速、安全地為N
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rds(on)測量介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條rds(on)測量!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對rds(on)測量的理解,并與今后在此搜索rds(on)測量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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