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Pickering 新型基于MEMS技術(shù)的多端口千兆以太網(wǎng)接口單元（GBASE-T1 FIU），顯著提升了測(cè)試系統(tǒng)的帶寬、數(shù)據(jù)吞吐能力以及使用壽命

2025年10月22 日，美國(guó)馬薩諸塞州特克斯伯里——作為電子測(cè)試與驗(yàn)證領(lǐng)域模塊化信號(hào)開(kāi)關(guān)及仿真解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商，Pickering Interfaces公司宣布對(duì)廣受歡迎的PXI故障注入單元開(kāi)關(guān)模塊系列擴(kuò)展并推出新產(chǎn)品。新增的40-205（PXI）和42-205（PXIe）系列采用緊湊型單槽設(shè)計(jì)，隸屬于該公司雙線(xiàn)串行接口故障注入開(kāi)關(guān)產(chǎn)品家族。該系列產(chǎn)品基于微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）開(kāi)關(guān)技術(shù)，專(zhuān)為模擬高速通信協(xié)議中的典型故障場(chǎng)景而設(shè)計(jì)，能夠滿(mǎn)足MultiGBASE-T1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的最新演進(jìn)要求。
關(guān)鍵字： Pickering MEMS 千兆以太網(wǎng)接口單元 GBASE-T1 FIU 帶寬數(shù)據(jù)吞吐能力

以太網(wǎng)是個(gè)人電腦和消費(fèi)電子非常重要的外圍通訊接口。隨著新一代以太網(wǎng)協(xié)議10GBASE-T的登場(chǎng)，在傳輸速度大幅提升的同時(shí)，對(duì)測(cè)試測(cè)量也帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。本文將重點(diǎn)介紹10GBASE-T以太網(wǎng)一致性測(cè)試面臨的新的挑戰(zhàn)以及相
關(guān)鍵字： GBASE-T 10 以太網(wǎng) 信號(hào)完整性

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