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用開放測試平臺R&S CompactTSVP快速實現數字功能性測試
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進行大量數據運算的領域，快速數字功能性測試也可以實現。全新的高速數字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數據速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實測值都可以存儲在本地。由于模塊內部能實時對比實測值與期望值，記錄的測試數據不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時間。 R&S TS PHDT，這個小
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 R&S CompactTSVP PXI 嵌入式
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compacttsvp介紹
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