測試環(huán)路濾波器及射頻電路設計詳解

• 　　小數(shù)分頻頻率合成器在測試時必須外接一個環(huán)路濾波器電路與壓控振蕩器才能構成一個完整的鎖相環(huán)電路。其外圍電路中環(huán)路濾波器的設計好壞將直接影響到芯片的性能測試。以ADF4153小數(shù)分頻頻率合成器為例，研究了其外圍環(huán)路濾波器的設計方法，給出了基于芯片測試的環(huán)路濾波器設計流程，并進行了驗證測試。測試結果表明，該濾波器可滿足小數(shù)分頻頻率合成器芯片測試的需要。在進行小數(shù)分頻頻率合成器的芯片測試時，數(shù)字部分可以通過常規(guī)的數(shù)字測試方法即可以實現(xiàn);而輸出射頻信號的相位噪聲、雜散噪聲則需要芯片工作在正常的輸出狀態(tài)下才能測試
• 關鍵字： 濾波器  ADF4153