過電應力 文章 最新資訊
EOS(過電應力)導致的器件失效
- 在現(xiàn)代電子設(shè)備中，元器件的可靠性是系統(tǒng)穩(wěn)定運行的基石。然而，在實際應用中，我們常常會遇到各種各樣的器件失效問題。其中，過電應力（Electrical Over Stress, EOS）導致的失效占比超過80%以上，而器件本身質(zhì)量原因?qū)е碌氖О咐蚊采贤ǔＥc“EOS”形貌類似，故因器件本身質(zhì)量原因?qū)е碌氖Ш芏鄷r候常常被誤判或忽視。本文將簡單學習EOS的失效機理、典型特征、與靜電放電（ESD）的異同，然后結(jié)合兩個功率器件失效實際案例，簡述如何通過“EOS”的現(xiàn)象找到失效根因。一、何為過電應力（EOS）？E
- 關(guān)鍵字： 過電應力 元器件 電路設(shè)計
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過電應力介紹
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