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          Multitest具有成本效益的MEMS測(cè)試模塊獲得新訂單

          作者: 時(shí)間:2009-02-17 來(lái)源:SEMI 收藏
                  宣布,最近新收到一份來(lái)自國(guó)際領(lǐng)先的汽車電子IDM的訂單,用于模塊的磁阻測(cè)試。訂單的簽訂主要由于客戶對(duì)不斷降低測(cè)試成本的需求。

                  該系統(tǒng)是的臺(tái)式重力分選機(jī)MT99xx,它是一個(gè)八進(jìn)制的定位系統(tǒng)。它使得用戶獲得更短的測(cè)試時(shí)間和并行測(cè)試能力。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/91313.htm

                  此外,集成于MT99xx的接觸卡盒的OCR讀取器,可以使用戶將各種測(cè)試參數(shù)設(shè)置與測(cè)試結(jié)果緊密關(guān)聯(lián)起來(lái)。這也是MT99xx的一大特色。

                  模塊和MT99xx系統(tǒng)都可以轉(zhuǎn)換成各種不同的封裝類型,這給用戶帶來(lái)了額外的投資回報(bào)率。

                  測(cè)試方法,結(jié)合了MEMS測(cè)試的特定應(yīng)用模塊和標(biāo)準(zhǔn)的高性能測(cè)試分選機(jī)的所有優(yōu)點(diǎn),提供了更寬泛的MEMS測(cè)試方案,包括加速計(jì)、陀螺儀、low-g加速度傳感器、壓力傳感器、光學(xué)和磁性傳感器等。



          關(guān)鍵詞: Multitest MEMS 高速

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