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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者：時間：2008-04-10 來源：電子產(chǎn)品世界

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　　對于邊界掃描I/O模塊、并行I/O模塊、內(nèi)電路測試針或其他ATE I/O資源都采用相同的I/O測試圖形。當(dāng)測試程序用于不同的ATE時，借助測試儀配置和連線表尋址實(shí)際的測試儀I/O資源。

　　圖3示出具有邊界描述控制器和附加測試儀I/O硬件的測試儀配置。邊界掃描控制器提供到UUT的JTAG測試接入端口的存取和到測試儀I/O間傳輸是通過主總線接口而不是通過邊界掃描鏈。

本文引用地址：http://yuyingmama.com.cn/article/81439.htm

　　到具有混合掃描資源的UUT外設(shè)接口連接器的接入與采用邊界掃描I/O模塊(采用掃描鏈接入)所實(shí)現(xiàn)的測試覆蓋范圍具有同樣的改善。然而，由于產(chǎn)品的I/O圖形不能作為邊界掃描鏈的一部分，而是做為并行I/O圖形，所以，這些配置的測試程序可以端接。用其他ATE I/O資源，而測試程序不用作任何修改。由于I/O圖形與UUT邊界掃描描述無關(guān)，所以，測試覆蓋范圍統(tǒng)計不會改變。

　　表2給出采用融合UUT的邊界掃描I/O模塊與用混合掃描概念實(shí)現(xiàn)時，測試覆蓋范圍統(tǒng)計的差別?？紤]UUT和測試儀資源分別保證精度和UUT定向測試覆蓋范圍統(tǒng)計。

　　基于混合測試圖形的概念是把經(jīng)過UUT邊界掃描鏈的串行接入和經(jīng)過測試儀I/O資源并行接入結(jié)合起來。測試儀I/O資源應(yīng)個別地可編程做為輸入，輸出或三態(tài)。

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關(guān)鍵詞： ATE 邊界掃描 UUT

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