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          EEPW首頁 > 工控自動(dòng)化 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 沒有ATE生成向量的精密測(cè)試(04-100)

          沒有ATE生成向量的精密測(cè)試(04-100)

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          作者: 時(shí)間:2008-04-01 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏


           

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/81046.htm

            在電平-1~3V和頻率范圍DC~100MHz檢測(cè)共模信號(hào)。進(jìn)入1個(gè)開路的共模信號(hào)抑制電平是400mVPK-PK。DC接入措施允許1個(gè)DC信號(hào)(一般從測(cè)試頭得到)加到上。

            實(shí)現(xiàn)硬件特性是 Assist 工作中心軟件,此軟件為環(huán)路量差的設(shè)置和調(diào)試提供GUI設(shè)計(jì)。另附加的圖像設(shè)備支持圖像生成,抖動(dòng)容差性能圖動(dòng)態(tài)的跟蹤編程環(huán)路參量變化。

            和串行鏈路改變著測(cè)試前景,使測(cè)試成本大大降低。

             Assist用Rel4.3HP-UX11或Linux操作系統(tǒng)在93000 SoC Tester上運(yùn)行。目標(biāo)必須支持環(huán)回/BIST測(cè)試模式?!?冰)


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          關(guān)鍵詞: BIST DUT

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