德州儀器公司(TI)的IVC102精密積分器有高質(zhì)量的內(nèi)部電容。圖1的電路可以用來測量非常高的R_X電阻值。一只精密差分放大器（TI 的INA105）為R_X施加一個基準電壓。積分期間，在IVC1 2的輸出端產(chǎn)生一個負電壓斜坡V_O。兩只 LM311將V_O的振幅與兩個固定閾值作比較，產(chǎn)生兩個數(shù)字信號：開始和停止。兩個這類事件之間的時間增量與系統(tǒng)參數(shù)的關(guān)系由下式表示：ΔT=C_INT[(V_A- V_B)/V_REF]R_X，其中ΔT是時間增量，C_INT是IVC102的內(nèi)部積分電容，其外部連接由4、5 和6腳選擇。（注：當S₁打開時，C_INT=10pF，而當S₁閉合時，C_INT=100pF。）V_A閾值使電路能在V_O信號上看到?jīng)]有任何偏移的輸出斜坡。由于INA105差分放大器的V_REF =V_A-V_B，因此前述方程化簡為：ΔT =C_INTRX。另外注意，電阻 R₁、R₂和R₃的精度并不重要。差分放大器可保證歐姆計的精度。

外接數(shù)字控制電路可以通過計算開始和停止事件之間的時鐘周期，測出時間增量。最后，控制電路為 IVC102 產(chǎn)生一個復(fù)位信號，以進行一次新的測量。