趨勢五：協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE將影響半導(dǎo)體的測試

如今的半導(dǎo)體器件變得愈加的復(fù)雜，高級的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言，需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級的功能測試?，F(xiàn)在器件的功能也不再是通過簡單的并行數(shù)字接口實(shí)現(xiàn)，而是更多的依賴于高速串行總線和無線協(xié)議進(jìn)行輸出，這就要求測試設(shè)備和器件之間能夠在指定的時(shí)鐘周期內(nèi)完成高速的激勵(lì)和響應(yīng)測試。

復(fù)雜的測試需求催生了協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE的誕生，Andrew Evans在2007國際測試會(huì)議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE - Protocol Aware”中首次提出了這個(gè)概念。這是一種模仿器件真實(shí)使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法，按照器件期望的使用方式，進(jìn)行有針對性的器件功能測試和驗(yàn)證。

國際半導(dǎo)體測試協(xié)會(huì)(STC)和新近成立的半導(dǎo)體測試合作聯(lián)盟(CAST)都在考慮為自動(dòng)化測試廠商制定開放的測試架構(gòu)以滿足日益增加的半導(dǎo)體測試需求和降低測試成本。NI作為STC協(xié)會(huì)便攜式測試儀器模塊(PTIM)工作組的主席，正在致力于創(chuàng)建一種新的指南和標(biāo)準(zhǔn)，使得工程師能夠?qū)⒌谌降哪K化測試儀器(如PXI)集成到傳統(tǒng)的半導(dǎo)體ATE中，以實(shí)現(xiàn)更為靈活自定義、符合“協(xié)議感知”要求的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。