3.2 晶振頻率誤差數(shù)據(jù)方差分析及顯著性檢驗

　　測量值y1，y2，…，yN之間的差異(稱為變差)是由兩方面的原因引起的。一是自變量取值的不同，二是其他因素(包括試驗誤差、隨機誤差等)的影響。為了對回歸方程進行檢驗，把兩者所引起的變差從y的總變差中分解出來。根據(jù)上述數(shù)據(jù)可得：

　　式中：U稱為回歸平方和，它反映了在y的總變差中由于x和y的線性關(guān)系而引起的y變化的部分；Q稱為殘余平方和，即所有測量點距回歸直線的殘余誤差平方和。

　　若總的平方和由N項組成，其自由度就為N-1，總的離差平方和的自由度可分為回歸平方和的自由度υU和殘余平方和的自由度υQ之和，即：

　　在一元線性回歸中，υU=1，υS=N-1，則Q的自由度υQ=N-2。由回歸平方和與殘余平方和的意義可知，一個回歸方程是否顯著，也就是y與x的線性關(guān)系是否密切，取決于U及Q的大小，U愈大Q愈小，說明y與x的線性關(guān)系愈密切。通常可以采用F檢驗法來對方程進行顯著性檢驗。對于一元線性回歸，將U及Q的值代入上式得到統(tǒng)計量F：

　　由F分布表可以查出，F(xiàn)≥F0.01(1，28)=7.64?？烧J為回歸是高度顯著的。

　　殘余平方和Q除以它的自由度υQ所得商：

　　稱為殘余方差，它可以看作排除了x對y的線性影響后，衡量y隨機波動大小的一個估計量。殘余方差的平方根：

　　稱為殘余標(biāo)準(zhǔn)差，它可用來衡量所有隨機因素對y一次性測量平均變差的大小，σ愈小，則回歸直線的精度愈高。

　　把平方和及自由度進行分解的方差分析數(shù)據(jù)結(jié)果歸納在一個表格中，如表3所示。

　　從表3可以看出，在30 s時間內(nèi)，晶振實際頻率與其標(biāo)稱頻率的相對偏差引起的誤差平方和為1.377 18×105μs2，其他各種隨機因素引起的誤差的平方和為1.996μs2。晶振相對頻偏引起的誤差遠遠大于其他因素引起的誤差，表明了晶振頻率誤差貢獻主要來源于實際頻率與標(biāo)稱頻率之間的頻偏。通過頻率修正即可得到一種高穩(wěn)定度的頻標(biāo)源。

　　4 結(jié)語

　　以上分析結(jié)果表明，該晶振頻率誤差主要來源于實際頻率與標(biāo)稱頻率的相對偏差，隨機誤差對晶振整體誤差的貢獻很小。通過對晶振標(biāo)稱頻率值進行在線補償可以消除其相對頻偏，從而獲得一種具有較高穩(wěn)定度的頻率源，可為需要時間顯示的場所提供高精度的時間服務(wù)。