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晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（二）

作者：時(shí)間：2013-11-30 來源：網(wǎng)絡(luò)

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為應(yīng)力加載時(shí)間的函數(shù)作圖。所有的應(yīng)力偏壓和測量都是在高溫（例如，135℃）下完成。

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關(guān)鍵詞： 晶圓級 可靠性測試 器件開發(fā)

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