尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結(jié)構(gòu)探針卡”。

近年來，電動汽車（EV）和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域使用的功率半導(dǎo)體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導(dǎo)體的檢測、特別是在高溫環(huán)境下進(jìn)行更精確、高質(zhì)量檢測的需求日益增長。

① “TC 探針卡”

半導(dǎo)體設(shè)備溫度測量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應(yīng)用熱電偶技術(shù)的探針“TC 探針”的產(chǎn)品，可以像現(xiàn)有技術(shù)一樣與電極 PAD 接觸，在進(jìn)行晶圓檢測的同時高精度測量設(shè)備表面溫度。

② 加壓結(jié)構(gòu)探針卡

加壓結(jié)構(gòu)探針卡是一種具有可加壓結(jié)構(gòu)的探針卡，在設(shè)備小型化需求導(dǎo)致接觸端子間距變窄的情況下，能夠提高耐電壓性能。通過獨特技術(shù)，可以封入各種氣體，防止放電對設(shè)備造成的損壞。此外，封入氮氣不
僅可以防止放電損壞，還能抑制檢測過程中探針和設(shè)備的氧化，從而延長探針壽命并提高其接觸性能。

本公司今后將繼續(xù)利用此次發(fā)售的產(chǎn)品技術(shù)，為半導(dǎo)體設(shè)備檢測提供更高價值的接觸解決方案。