引領創(chuàng)新天線測試技術的系統(tǒng)生產(chǎn)廠商——法國

引領創(chuàng)新天線測試技術的系統(tǒng)生產(chǎn)廠商——法國Microwave Vision Group (以下簡稱MVG) 近日宣布在其備受業(yè)界歡迎的MiniLAB系統(tǒng)中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統(tǒng)現(xiàn)不僅可以進行高準確度的OTA測試，還能提供無源測量，并為在LTE設備上測量RSE提供了一個全新方案。

在無源天線測量上，MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中，可加快測量速度，并為直徑達30 cm *的被測設備繪制天線輻射圖，使其成為優(yōu)化各種設備天線性能的理想解決方案。

輻射雜散發(fā)射（RSE）是指被測設備（DUT）發(fā)出的所有非基本發(fā)射。高水平的輻射發(fā)射會對某些特定無線產(chǎn)品帶來功能上的挑戰(zhàn)，干擾其他無線設備或無線電系統(tǒng)，或者改變設備本身的運行效率。

出于這個原因，諸如國際電信聯(lián)盟（ITU）、歐洲無線電和電信終端設備（R＆TTE）指令以及聯(lián)邦通信委員會（FCC）的標準化機構對在無線設備上測量RSE進行了嚴格的測試要求規(guī)定。這些測試要求旨在消除被測設備附近有其他無線設備時的干擾風險。

過去一直以來都是使用垂直掃描機械運動來測量RSE，以便在方位角旋轉時監(jiān)控設備。但這與許多傳統(tǒng)測試方法一樣，在設計和生產(chǎn)過程中非常耗時，而對廠商來說上市時間又是至關重要的。

相比較，MiniLAB采用多探頭技術，為在LTE和其他有源設備上測量提供了一個全新的RSE測試方案。在提供準確、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)同時，可以更快速、更詳細、更經(jīng)濟地解決企業(yè)的RSE測試需求。

使用MiniLAB可以大幅縮短測量時間和提交精確測量數(shù)據(jù)，其集成的多探頭陣列采用電子掃描來測量無線設備，使用戶能夠更輕松、更快速地在高達6 GHz的LTE頻段測量RSE。測量完成后，20秒內即能獲得RSE測量結果。

MiniLAB配備全電波暗室，屏蔽效能 > 100 dB，并提供高動態(tài)范圍，可測量傳輸無線信號和周圍發(fā)射的峰值電平而不會造成任何失真。

* 具體取決于頻率