23.高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試

一、目的:

測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀

三.測(cè)試條件:

儲(chǔ)存高溫高濕條件:通常為溫度70±2℃,濕度90-95%試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測(cè)試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況;

(2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室;

(3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測(cè)品外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

24.低溫操作測(cè)試

一、目的:

測(cè)試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S.操作過程中的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

(1).依SPEC.要求:輸入條件(RATED VOLTAGE),輸出負(fù)載(FULL LOAD)和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2).試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測(cè)試方法:

(1).將待測(cè)品置于溫控室內(nèi),依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件,然后開機(jī).

(2).依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓,以及待測(cè)品是否有異常;

(4).做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出,在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

25.低溫儲(chǔ)存測(cè)試

一、目的:

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

儲(chǔ)存低溫條件:通常為溫度-30℃,試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測(cè)試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再將待測(cè)品做HI-POT測(cè)試,記錄測(cè)試結(jié)果,之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀,結(jié)構(gòu)及

電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求.

26.低溫啟動(dòng)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

三.測(cè)試條件:

儲(chǔ)存低溫條件:通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 ±2℃,儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs.

四、測(cè)試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各20次,確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1).在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27.溫度循環(huán)測(cè)試

一、目的:

測(cè)試針對(duì)S.M.P.S.所有組成零件的加速性測(cè)試,用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

操作溫度條件:通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%),試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán).

四、測(cè)試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),以無包裝,非操作狀態(tài)下.

(3).設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).

(4).啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī),然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形,監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,

(5).試驗(yàn)完成后,溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出,放置樣品在空氣中4Hr再確認(rèn)外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

28.冷熱沖擊測(cè)試

一、目的:

測(cè)試高,低溫度沖擊對(duì)S.M.P.S.的影響,用來揭露各組成元件的弱點(diǎn).

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

(1).依SPEC.要求:儲(chǔ)存最高(70℃),低溫度(-30℃),測(cè)試共10個(gè)循環(huán),高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為2min;

(2).依客戶所提供的試驗(yàn)條件.

四、測(cè)試方法:

(1).在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr.

(2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min.,并高溫烘烤1Hr.

(3).在高溫70 ℃和低溫-30 ℃之間循環(huán)10個(gè)周期后,溫度回到常溫將S.M.P.S.取出(至少恢復(fù)4小時(shí)).

(4).確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測(cè)試前的差異.

五、注意事項(xiàng):

(1).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

(3).產(chǎn)品為非操作條件.

28.冷熱沖擊測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S.在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下,是否產(chǎn)生電弧ARCING,其CUT OFF CURRENT是否滿足SPEC.要求,及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S.造成損傷.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

依SPEC.要求:耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA)值;

四、測(cè)試方法:

(1).依SPEC.設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE,操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT值.

(2).將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接,進(jìn)行耐壓測(cè)試,觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING,及漏電流CUT OFF CURRENT是否過大.

(3).耐壓測(cè)試后,確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1).測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件,待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好.

(2).耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.

30.跌落測(cè)試

一、目的:

了解S.M.P.S.由一定高度,不同面進(jìn)行跌落DROP,其結(jié)構(gòu),電氣等特性的變化狀況.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

依SPEC.要求:規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測(cè)試方法:

(1).所有待測(cè)品需先經(jīng)過電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒任何可見的損壞存在.

(2).確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落.

(3).使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2)所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落,每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測(cè)試

一、目的:

測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測(cè)試儀;

三.測(cè)試條件:

(1).依SPEC.要求:施加500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義).

四、測(cè)試方法:

(1).確認(rèn)好電氣性能后,在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間(1 Minute).

(2).將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接,然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試.

(3).再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試.

(4).確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項(xiàng):

(1).阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義.

32.額定電壓輸出電流測(cè)試

一、目的:

測(cè)試S.M.P.S.在AC LINE及OUTPUT VOLT.一定時(shí),其輸出電流值.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

三.測(cè)試條件:

四、測(cè)試方法:

(1).固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV模式下的輸出電壓.

(2).開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值.

(3).切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.

(4).在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項(xiàng):

記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定.