FFT子模塊設(shè)計(jì)

　　利用Xilinx IP核設(shè)計(jì)FFT模塊，根據(jù)內(nèi)部同步信號(hào)，準(zhǔn)確定位到待測(cè)“時(shí)隙”，對(duì)其進(jìn)行實(shí)時(shí)傅里葉變換供后續(xù)DSP芯片處理。該子模塊設(shè)計(jì)如圖15所示。 TI公司的DSP6487芯片根據(jù)FPGA輸出的FFT頻譜，計(jì)算出“占用帶寬(Occupied Bandwidth)”、“鄰道泄漏抑制比(Adjacent Channel Leak Ratio)”、“頻譜發(fā)射模板(Spectrum Emission Mask)”等指標(biāo)。

　　測(cè)試結(jié)果

　　測(cè)試環(huán)境：待測(cè)件(AV5251寬帶多通道數(shù)字中頻單元)，對(duì)比測(cè)試儀器AV4947(TD-LTE無線終端綜合測(cè)試儀)。矢量信號(hào)源R&S SMU200A，矢量信號(hào)分析儀Anritsu MS2692A等。

　　測(cè)試平臺(tái)：SMU200A為激勵(lì)源分別接到AV5251和AV4947的輸入端;MS2692A為監(jiān)測(cè)儀分別連接到前者的輸出端。其中，圖16為待測(cè)件(寬帶數(shù)字中頻單元)，圖17為測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)比測(cè)試結(jié)果如表3所示。

　　數(shù)字中頻單元作為數(shù)字信號(hào)的處理前端通道，對(duì)TD-LTE/TD-SCDMA信號(hào)應(yīng)有良好的兼容性。測(cè)試結(jié)果如表4所示，測(cè)試結(jié)果截圖如圖18所示。

　　結(jié)論

　　電路設(shè)計(jì)基于奈奎斯特帶通采樣原理，運(yùn)用高速數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，采用高解析度、高采樣率A/D、D/A和高性能FPGA、DSP芯片，設(shè)計(jì)一款針對(duì)“射頻一致性測(cè)試”用途的數(shù)字中頻處理單元，將接收信號(hào)處理動(dòng)態(tài)范圍提高到96dB，發(fā)射/接收通道EVM指標(biāo)降低到0.48%，滿足TD-LTE/TD-SCDMA測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求，為應(yīng)對(duì)“TD-LTE射頻一致性測(cè)試”需求提供了一種新的可實(shí)施的解決方案。

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