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          基于NI平臺(tái)的BMS電池管理系統(tǒng)HIL測(cè)試

          作者:Sung-UpHwang ControlWorks 時(shí)間:2013-09-04 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            電池槽電壓、電池溫度和從電池模型中產(chǎn)生的電池組電流,均可利用FPGA來仿真實(shí)現(xiàn)。因?yàn)镕PGA能夠提供高速的性能,我們能提高從每個(gè)電池組生成的電流的反應(yīng)速度。

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/164629.htm

            測(cè)試方案實(shí)施

            通過使用 TestStand(見圖7),我們能依次布置各種發(fā)生于電池系統(tǒng)的錯(cuò)誤情況和相應(yīng)的配置,從而簡(jiǎn)化自動(dòng)測(cè)試方案。

            結(jié)論

            使用我們的 硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)可以減少電動(dòng)車或混合動(dòng)力車電池測(cè)試相關(guān)的費(fèi)用和風(fēng)險(xiǎn)。該系統(tǒng)也提供測(cè)試環(huán)境,包括電池槽電壓、電流和溫度,這些很難共同設(shè)置。另外,應(yīng)用產(chǎn)品可以提高硬件可靠性并減少系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間。

            通過應(yīng)用仿真接口工具包,我們快速實(shí)現(xiàn)了用戶界面和使用了Simulink中的應(yīng)用電池模型。通過 TestStand,我們能配置許多測(cè)試案例,從而得出具有可讀性的性能評(píng)估和簡(jiǎn)化的自動(dòng)測(cè)試方案。

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          關(guān)鍵詞: NI BMS HIL LabVIEW PXI

          評(píng)論


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