基于TSC控制技術(shù)的可控硅開關(guān)分析
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在確定了可控硅的型號后，在電路中串聯(lián)不同大小的電抗，觀察消弧線圈投切電容器時整個電路的電壓波形。本文引用地址：http://yuyingmama.com.cn/article/159291.htm
經(jīng)實驗比較后發(fā)現(xiàn)，當串聯(lián)電抗器的感抗值占同組電容器的容抗值約6％時電壓波形效果較好，感抗過大或過小得到的電壓波形效果較差。
另外，串聯(lián)電阻可解決投切電容器時電壓波形的畸變問題，但在實際應(yīng)用中電阻存在較大的發(fā)熱和功率損耗問題，故串聯(lián)電阻方案不可行。
由本實驗可總結(jié)出，空心電感的存在能有效解決問題，因為電感具有抑制電流突變的特點，實驗也證實了這一點。
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