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          SoC中放大器和ADC的校準

          作者:GaneshRaaja,PushekMadaan 時間:2012-10-09 來源:電子產品世界 收藏

            把概念投入實測

          本文引用地址:http://yuyingmama.com.cn/article/137420.htm

            我們使用賽普拉斯推出的P(可編程片上系統)混合信號控制器(其包括靈活的模擬和數字外設以及板上微控制器)來測量和兩點校準等上述概念。該器件具有通用模擬模塊,其可以構建可編程增益放大器、、DAC、濾波器等各種模擬外設。此外,該器件還可提供非常靈活的模擬路由資源,包括輸入多路復用器、模擬輸出緩沖器、靈活的模塊間連接功能等。圖8給出了器件中模擬資源的配置情況?! ?/p>

           

            我們在增益為16的可編程增益放大器輸入處采用4:1的輸入多路復用器以切換輸入信號和模擬接地。PGA的輸出提供給12位增量型。參考發(fā)生器可用于生成2.5V的模擬接地,然后被帶出到采用模擬緩沖器的引腳上。+60mV的輸入信號就2.5V參考連接到輸入引腳上。利用這種硬件設置,可編寫三套不同的應用代碼。

            1. 無偏移或增益補償的應用。
            2. 采用進行偏移補償的應用。
            3. 通過兩點校準進行偏移和增益補償的應用。

            在上述所有三種應用中,測量到的輸入顯示在LCD顯示器上。上述三種應用獲得的測試結果如下所示:

            輸入 +60mV
            增益 16.00
            參考 1.3V(內部)  

           

            滿量程誤差為未校準系統的+11%上下。僅用進行偏移補償,誤差可減少到大約+0.4%上下。而結合兩點校準,誤差可降低到+0.07%上下。

            下表列出了信號采集系統中采取不同技術消除偏移和增益誤差的優(yōu)缺點:  

           

            根據系統精度和成本的不同要求,我們可采用上述某種技術或結合采用多種技術,從而構建起高精度信號采集系統。


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          關鍵詞: ADC SoC CDS

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