GE推出新型的x|act 檢測(cè)軟件，以配合phoenix microme|x and nanome|x 180伏高分辨率X射線檢測(cè)系統(tǒng)。該軟件可應(yīng)用于電子部件的手工檢測(cè)，以及電子封裝中焊點(diǎn)的全自動(dòng)、基于CAD的X射線檢測(cè)。x|act 檢測(cè)軟件操作簡(jiǎn)易、可靠性更高，為制造提供實(shí)時(shí)的圖像信息，確保了缺陷檢測(cè)的高精確度。