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          博客專欄

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          電子設(shè)備老化實(shí)驗(yàn)怎么做?

          發(fā)布人:美男子玩編程 時(shí)間:2024-10-15 來源:工程師 發(fā)布文章

          電子設(shè)備老化實(shí)驗(yàn)(Aging Test)是為了驗(yàn)證電子設(shè)備在長時(shí)間使用下的可靠性和穩(wěn)定性,通過加速其工作環(huán)境或使用條件來模擬其長時(shí)間運(yùn)行的狀態(tài)。這種實(shí)驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)潛在的故障和性能衰減,確保設(shè)備在實(shí)際使用中的耐久性。



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          目標(biāo)設(shè)定

          確定實(shí)驗(yàn)的目標(biāo),例如測試設(shè)備在某個(gè)環(huán)境下的使用壽命、性能退化情況或是特定元件的耐久性。明確目標(biāo)有助于設(shè)計(jì)合理的測試方案。


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          樣品準(zhǔn)備

          選擇適當(dāng)數(shù)量的測試樣品,確保樣品能夠代表設(shè)備的典型性能和質(zhì)量。通常,樣品數(shù)量越多,測試結(jié)果越具有統(tǒng)計(jì)意義。


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          加速老化條件的設(shè)計(jì)

          • 溫度通常會將設(shè)備放置在高溫環(huán)境下運(yùn)行,如70°C或85°C,甚至更高,模擬多年的使用效果。高溫可以加速元件材料的老化反應(yīng)。

          • 濕度一些電子設(shè)備可能會在高濕環(huán)境下工作,濕度的增加會加速材料腐蝕或絕緣層的劣化,通常采用85%~95%的濕度條件。

          • 電應(yīng)力通過提高電壓、電流等工作應(yīng)力,加速元件的電氣性能衰減。

          • 振動與沖擊對于會遭受機(jī)械應(yīng)力的設(shè)備,通過振動臺或沖擊臺模擬設(shè)備在運(yùn)輸或使用過程中受到的物理沖擊。

          • 連續(xù)工作時(shí)間設(shè)備會被長時(shí)間不間斷運(yùn)行,以測試在連續(xù)高負(fù)荷下的穩(wěn)定性。


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          實(shí)驗(yàn)監(jiān)控

          實(shí)驗(yàn)過程中,必須持續(xù)監(jiān)控設(shè)備的工作狀態(tài),記錄電氣參數(shù)(如電壓、電流、功率等)、溫度、信號的輸出等信息。出現(xiàn)異常時(shí)要詳細(xì)記錄并分析故障原因。


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          故障分析

          在老化實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,進(jìn)行故障分析,找出設(shè)備中表現(xiàn)出不穩(wěn)定或失效的部件。結(jié)合失效數(shù)據(jù)評估設(shè)備的壽命和可靠性,并根據(jù)這些數(shù)據(jù)對設(shè)計(jì)或制造工藝進(jìn)行改進(jìn)。


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          數(shù)據(jù)分析與報(bào)告

          記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),統(tǒng)計(jì)設(shè)備的失效率和性能變化,生成老化曲線并與預(yù)期壽命進(jìn)行對比。根據(jù)測試結(jié)果得出結(jié)論,分析是否滿足產(chǎn)品設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。


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          具體例子

          例子 1:手機(jī)的老化測試

          在對智能手機(jī)進(jìn)行老化實(shí)驗(yàn)時(shí),測試環(huán)境通常為高溫(80°C)、高濕度(90%)的條件下進(jìn)行。手機(jī)在實(shí)驗(yàn)期間會保持持續(xù)通電,并進(jìn)行周期性的操作測試,例如觸摸屏響應(yīng)、通信模塊、Wi-Fi信號等功能測試。實(shí)驗(yàn)時(shí)長可能會設(shè)定為1000小時(shí)(相當(dāng)于幾年時(shí)間的模擬),并實(shí)時(shí)監(jiān)控電池的放電性能、顯示屏的顏色變化、主板元件的工作溫度等。


          例子 2:電動汽車充電設(shè)備的老化測試

          電動汽車的充電設(shè)備(充電樁或車載充電器)通常需要進(jìn)行高溫(70°C以上)、大電流(滿載狀態(tài))的老化實(shí)驗(yàn)。通過長時(shí)間持續(xù)的充電放電循環(huán),來測試設(shè)備的散熱能力、功率輸出的穩(wěn)定性、電纜及接頭的耐用性等。這類實(shí)驗(yàn)?zāi)軌蛱崆鞍l(fā)現(xiàn)充電設(shè)備在長期使用中可能發(fā)生的故障,例如過熱保護(hù)失效、接口老化、功率下降等問題。


          例子 3:服務(wù)器的老化測試

          對于數(shù)據(jù)中心服務(wù)器,通常在高溫(如55°C)和高負(fù)載條件下進(jìn)行老化測試。實(shí)驗(yàn)中會對CPU、內(nèi)存、硬盤等元件進(jìn)行長時(shí)間的壓力測試,并且監(jiān)控溫度、響應(yīng)時(shí)間、數(shù)據(jù)讀寫速度等性能指標(biāo)。目標(biāo)是確保服務(wù)器能夠在長時(shí)間高負(fù)荷下穩(wěn)定運(yùn)行。


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          注意事項(xiàng)

          • 樣品量為了得到統(tǒng)計(jì)意義的結(jié)果,必須對足夠多的樣品進(jìn)行老化測試,通常不低于10個(gè)樣品。

          • 時(shí)間設(shè)定老化實(shí)驗(yàn)的時(shí)間并非越長越好,應(yīng)該結(jié)合設(shè)備的設(shè)計(jì)壽命、使用環(huán)境以及實(shí)驗(yàn)室條件合理設(shè)定。

          • 安全性實(shí)驗(yàn)涉及高溫、高壓等極端條件時(shí),必須采取安全措施,避免設(shè)備故障引發(fā)火災(zāi)或人身傷害。


          通過電子設(shè)備老化實(shí)驗(yàn),能夠大幅提高產(chǎn)品的可靠性,為消費(fèi)者提供更耐用、更穩(wěn)定的電子產(chǎn)品。

          *博客內(nèi)容為網(wǎng)友個(gè)人發(fā)布,僅代表博主個(gè)人觀點(diǎn),如有侵權(quán)請聯(lián)系工作人員刪除。



          關(guān)鍵詞: 老化實(shí)驗(yàn)

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