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NI發(fā)布用于NI CompactRIO的無(wú)線I/O

美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布了一款新型無(wú)線網(wǎng)關(guān)和兩款新型測(cè)量節(jié)點(diǎn)，進(jìn)一步擴(kuò)展了NI 無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)平臺(tái)的性能，證實(shí)了NI在推動(dòng)無(wú)線測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展上所作出的承諾。
關(guān)鍵字： NI 無(wú)線測(cè)控

MAX11210為單通道，24位ADC提供了在300mu;A業(yè)界領(lǐng)先的23.9位有效分辨率(ENOB的)。較高的ENOB消除耗電的增益級(jí)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)最高的精度從傳感器成為可能。這使得MAX11210滿足4 - 20mA回路功率預(yù)算緊張的傳感器(為500m
關(guān)鍵字： 11210 23.9 MAX 單通道

MAX7300和MAX7301是通用的28端口、通用輸入/輸出口(GPIO)處理器外設(shè)。通過(guò)高速SPI串行接口(MAX7301)或Isup2;C串行接口 (MAX7300)進(jìn)行控制。該應(yīng)用筆記介紹了一個(gè)實(shí)用程序，PC機(jī)可以通過(guò)它來(lái)控制MAX7301或MAX7300驅(qū)
關(guān)鍵字： MAX 7300 7301 PC機(jī)

行業(yè)趨勢(shì)：當(dāng)今市場(chǎng)上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以...
關(guān)鍵字： LabVIEW 自動(dòng)化測(cè)試 NI TestStand

時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓(xùn)練中，一家國(guó)際大廠的創(chuàng)辦人親自站上講臺(tái)，為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng)業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事：一是一家公司最重要的事是對(duì)人的投資
關(guān)鍵字： Labview PXI NI James Truchard 孫基康

MAX97002單聲道音頻子系統(tǒng)集成了單聲道揚(yáng)聲器放大器、立體聲耳機(jī)放大器以及一路模擬DPST開(kāi)關(guān)。耳機(jī)放大器和揚(yáng)聲器放大器具有獨(dú)立的音量控制和開(kāi)/關(guān)控制。4個(gè)輸入端可以配置成2路差分輸入或4路單端輸入。

整個(gè)子系
關(guān)鍵字： 97002 MAX 耳機(jī)放大器音頻子系統(tǒng)

MAX1226/MAX1228/MAX1230是串行12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，內(nèi)置基準(zhǔn)和溫度傳感器。這些器件具有片內(nèi)FIFO、掃描模式、內(nèi)部時(shí)鐘模式，內(nèi)部平均和AutoShutdowntrade;等特性。采用外部時(shí)鐘，其最高采樣速率可達(dá)300ksps。MAX1
關(guān)鍵字： MAX 1226 1228 1230

MAX4236/MAX4237為高精度運(yùn)放，在不采用斬波技術(shù)的情況下取得了優(yōu)異的低失調(diào)電壓和低失調(diào)電壓溫度系數(shù)。MAX4236和MAX4237的典型大信號(hào)開(kāi)環(huán)電壓增益為120dB。這些器件的輸入偏置電流極小，僅為1pA。MAX4236的增益帶寬
關(guān)鍵字： MAX 4236 4237 高精度

器件功能在MAX7461中，視頻信號(hào)首先進(jìn)行同步頭鉗位處理，建立直流電平(參見(jiàn)圖1)。這樣可以消除低頻噪聲，例如50Hz或60Hz產(chǎn)生的嗡嗡聲。在多個(gè)源切換到輸入時(shí)，它還可以避免直流反彈。鉗位后，信號(hào)經(jīng)過(guò)低通濾波，消除
關(guān)鍵字： 7461 MAX 報(bào)警標(biāo)清視頻

　　軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況，即雇傭的軟件工程師比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開(kāi)發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的縮短，當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧，以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上， 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試

當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器，所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高，無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試系統(tǒng) DUT

軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起，軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上，當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中，軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。
關(guān)鍵字： NI 系統(tǒng)軟件棧

構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案，滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。
關(guān)鍵字： NI ST-Ericsson

我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)，我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè)，使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào)，使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng)，使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池，揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
關(guān)鍵字： NI LCD PXI