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          ni labview+ 文章 最新資訊

          利用LabVIEW實(shí)時模塊縮減F-35戰(zhàn)斗機(jī)的測試成本與時間

          • 便攜式數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)采集系統(tǒng)(PDDAS)使用了LabVIEW實(shí)時模塊和PXI,以控制風(fēng)洞測試和采集記錄來自128個不同通道的空氣...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  F-35戰(zhàn)斗機(jī)  測試成本  

          NI自動化測試技術(shù)展望:系統(tǒng)軟件棧

          •   軟件是自動化測試系統(tǒng)的重要組成部分,軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時起,軟件在自動化測試中的作用日益凸顯。事實(shí)上, 當(dāng)前大多數(shù)測試系統(tǒng)中,軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況,即雇傭的軟件工程師 比硬件工程師多。為了應(yīng)對軟件開發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開發(fā)周期的縮短,當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計一個強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧,以確保他們在軟件方面的投入能 夠被延續(xù)下去,提高軟件資源的重用率。事實(shí)上, 2010年NI進(jìn)行的測試經(jīng)理
          • 關(guān)鍵字: NI  測試  

          LabView嵌入式開發(fā)模塊五大技術(shù)要點(diǎn)

          • LabView嵌入式開發(fā)模塊五大技術(shù)要點(diǎn),無論使用什么設(shè)計語言,不良的編程技術(shù)都會給一個應(yīng)用的性能帶來負(fù)面影響,對一個嵌入式應(yīng)用尤其如此。盡管對于絕大部分應(yīng)用來說,高效率的編程技術(shù)是重要的,但對于嵌入式應(yīng)用所工作的資源極度缺乏的環(huán)境,則要求對
          • 關(guān)鍵字: 技術(shù)  要點(diǎn)  五大  模塊  嵌入式  開發(fā)  LabView  

          基于NI TestStand 和LabVIEW開發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

          • 當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測試成本越來越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加,所以測試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y試對于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測試儀器,所以產(chǎn)品的測試成本過高,無法與其較低的制造成本保持一致。
          • 關(guān)鍵字: NI  測試系統(tǒng)  DUT  

          NI自動化測試技術(shù)展望2:系統(tǒng)軟件棧

          • 軟件是自動化測試系統(tǒng)的重要組成部分,軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時起,軟件在自動化測試中的作用日益凸顯。事實(shí)上, 當(dāng)前大多數(shù)測試系統(tǒng)中,軟件開發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。
          • 關(guān)鍵字: NI  系統(tǒng)軟件棧  

          基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器ST-Ericsson將半導(dǎo)體測試速度提升10倍

          • 構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測試解決方案,滿足半導(dǎo)體芯片測試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)而升級整個特性記述實(shí)驗(yàn)室。
          • 關(guān)鍵字: NI  ST-Ericsson  

          使用NI LabVIEW對手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動化測試

          • 我們使用美國國家儀器公司的PXI平臺開發(fā)了一個高可靠和靈活的測試系統(tǒng),我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來完成對LCD屏幕的檢測,使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測試所需的圖形信號,使用模擬輸出模塊檢測麥克風(fēng),使用模擬輸入模塊測試測試實(shí)時時鐘電池,揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對電流損耗進(jìn)行測試)。
          • 關(guān)鍵字: NI  LCD  PXI  

          NI發(fā)布全新Single-Board RIO嵌入式設(shè)備

          • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級嵌入式設(shè)備,配備了實(shí)時處理器、Spartan-6現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè),可用于實(shí)現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應(yīng)用。
          • 關(guān)鍵字: NI  嵌入式  處理器  

          基于Labview的便攜式振動分析儀

          • 引言  傳統(tǒng)的振動分析儀器具有結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、操作不方便等特點(diǎn);而基于單片機(jī)的振動采集分析儀雖然體積較小,但是分析能力有限,往往不能夠滿足振動分析與診斷的特殊要求?! ”疚乃O(shè)計的振動分析儀以Compact
          • 關(guān)鍵字: Labview  便攜式  振動分析儀    

          基于LABVIEW的信號幅值特征值求取系統(tǒng)設(shè)計

          • 引 言  LabVIEW有兩個基本窗口,前面板窗口和流程圖窗口,前面板窗口用于設(shè)置控制對象和顯示對象,相當(dāng)于常規(guī)儀器的顯示屏幕或指針;流程圖窗口用于編寫和顯示程序的圖形源代碼,相當(dāng)于語言編程中的語句,它由各種能
          • 關(guān)鍵字: LABVIEW  信號  幅值  求取系統(tǒng)    

          基于LabVIEW的FPGA模塊FIFO深度設(shè)定實(shí)現(xiàn)

          • 為了解決基于LabVIEWFPGA模塊的DMAFIFO深度設(shè)定不當(dāng)帶來的數(shù)據(jù)不連續(xù)問題,結(jié)合LabVIEWFPGA的編程特點(diǎn)和DMA FIFO的工作原理,提出了一種設(shè)定FIFO深度的方法。對FIFO不同深度的實(shí)驗(yàn)表明,采用該方法設(shè)定的FIFO深度能夠
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  FPGA  FIFO  模塊    

          基于LabVIEW的IIR數(shù)字濾波器的設(shè)計

          • 0引言正常情況下,電力系統(tǒng)中三相電力是對稱的,它們之間滿足一定的幅值和相位條件;但當(dāng)負(fù)載變化時,系...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  數(shù)字濾波器  無限沖擊響應(yīng)    

          基于LabVIEW的數(shù)字通信系統(tǒng)EVM和ACPR全自動化掃描測試

          • 隨著無線數(shù)字通信的迅猛發(fā)展,對于集成電路設(shè)計和測試提出了更多的挑戰(zhàn)。在產(chǎn)品設(shè)計階段,為了保證系統(tǒng)中射...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  數(shù)字通信  EVM  ACPR  
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          ni labview+介紹

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