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【系統(tǒng)解析】LTE測試的難點
- 【系統(tǒng)解析】LTE測試的難點-測試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動互聯(lián)網(wǎng)時代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，LTE測試還有哪些測試難點待解？
- 關(guān)鍵字： TD-LTE終端 MIMO系統(tǒng) LTE產(chǎn)業(yè) LTE測試
用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣設(shè)計
- 每天都有新的用戶對服務(wù)和數(shù)據(jù)傳輸速度提出新的要求。多頻天線的發(fā)展已成為擴展手機性能的一種通用方法...
- 關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 三頻段 天線陣設(shè)計
用于MIMO系統(tǒng)的三頻段天線陣
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： MIMO系統(tǒng) 天線陣 PIFA 隔離度
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